Слайд 2Тестирование цифровой схемы
Основные функциональные блоки, используемые при тестировании цифровой схемы
![Тестирование цифровой схемы Основные функциональные блоки, используемые при тестировании цифровой схемы](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-1.jpg)
Слайд 3Генерация ПСП сигналов
Работа генератора М-последовательности, сумматоры по модулю два которого включены в
![Генерация ПСП сигналов Работа генератора М-последовательности, сумматоры по модулю два которого включены](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-2.jpg)
межразрядные связи, описывает порождающий полином
Слайд 4Генерация ПСП сигналов
Генератор М-последовательности
![Генерация ПСП сигналов Генератор М-последовательности](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-3.jpg)
Слайд 5Сигнатурный анализ
Функциональная схема сигнатурного анализатора, построенного по методу деления полиномов.
![Сигнатурный анализ Функциональная схема сигнатурного анализатора, построенного по методу деления полиномов.](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-4.jpg)
Слайд 6Сигнатурный анализ
Функциональная схема сигнатурного анализатора, построенного по методу свёртки.
![Сигнатурный анализ Функциональная схема сигнатурного анализатора, построенного по методу свёртки.](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-5.jpg)
Слайд 7Сигнатурный анализ
Сигнатура формируется по алгоритму
где формируются на основании
порождающего полинома
![Сигнатурный анализ Сигнатура формируется по алгоритму где формируются на основании порождающего полинома](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-6.jpg)
Слайд 8Сигнатурный анализ
Структурная схема сигнатурного анализатора
![Сигнатурный анализ Структурная схема сигнатурного анализатора](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-7.jpg)
Слайд 9Сигнатурный анализ
Многоканальный сигнатурный анализатор
![Сигнатурный анализ Многоканальный сигнатурный анализатор](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-8.jpg)
Слайд 10Сигнатурный анализ
Четырехканальный сигнатурный анализатор
![Сигнатурный анализ Четырехканальный сигнатурный анализатор](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-9.jpg)
Слайд 11Коды циклического избыточного контроля
Двоичное слово 11000001 можно представить в виде
полинома
A(X)=X7 +X6 +
![Коды циклического избыточного контроля Двоичное слово 11000001 можно представить в виде полинома](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-10.jpg)
X0 = X7 + X6 + 1.
Пусть имеются двоичный поток B(X) и порождающий полином G(X).
Если разделить полином B(X) на G(X), получится частное Q(X) и остаток R(X):
B(X)=G(X)*Q(X)+R(X).
Прибавляя –R(X) к обеим частям уравнения, получим :
B(X) - R(X) = G(X)*Q(X).
Слайд 12Коды циклического избыточного контроля
При способе ЦИК наиболее широко применяется
16-битный полином вида:
![Коды циклического избыточного контроля При способе ЦИК наиболее широко применяется 16-битный полином](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-11.jpg)
ЦИК-16 = X16 + X15 + X2 + 1
Регистр сдвига с линейной обратной связью
Слайд 13Сигнатурный анализ
Для сжатия информации фирма Hewlett-Packard остановилась на регистре с обратной связью
![Сигнатурный анализ Для сжатия информации фирма Hewlett-Packard остановилась на регистре с обратной](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-12.jpg)
X16 + X12 + X 9 + X7 + 1
С помощью сигналов пуска и останова входной сигнал подается в схему, а сигнал синхронизации от проверяемой системы сдвигает данные в регистре.
По окончании интервала измерения осуществляется индикация содержимого регистра как характеристической сигнатуры проверяемого узла.
Слайд 14Сигнатурный анализ
Фирма Hewlett-Packard заменила стандартный набор 16-ричных символов, чтобы избежать путаницы между
цифрой
![Сигнатурный анализ Фирма Hewlett-Packard заменила стандартный набор 16-ричных символов, чтобы избежать путаницы](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-13.jpg)
6 и буквой b, и приняла следующие символы:
Слайд 15Сигнатурный анализ
Пример цифровой схемы с обратной связью. (Неисправна ИС 2).
Если снабдить
![Сигнатурный анализ Пример цифровой схемы с обратной связью. (Неисправна ИС 2). Если](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-14.jpg)
схему переключателем, который в режиме тестирования размыкает цепь обратной связи, сигнатура в точке E перестает зависеть от сигнатуры в точке D, и в этом случае неисправность ИС 2 легко обнаруживается.
Слайд 17Секция анализа сигнатурного анализатора
![Секция анализа сигнатурного анализатора](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-16.jpg)
Слайд 18Секция индикации сигнатурного анализатора
![Секция индикации сигнатурного анализатора](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-17.jpg)
Слайд 19Тестирование МП
Получение сигнатур в режиме свободного счета
![Тестирование МП Получение сигнатур в режиме свободного счета](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-18.jpg)
Слайд 20Тестирование ПЗУ в режиме свободного счета
![Тестирование ПЗУ в режиме свободного счета](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-19.jpg)
Слайд 21Тест-циклы сигнатурного анализа
Тест входного порта для МП 8080/Z80.
Принцип теста заключается в сдвиге
![Тест-циклы сигнатурного анализа Тест входного порта для МП 8080/Z80. Принцип теста заключается](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-20.jpg)
состояния логической “1” по всем восьми линиям ВВ выходного порта. Таким образом, до перехода к следующему тесту будет произведено 8 операций записи в выходной порт.
Слайд 22Список контрольных вопросов
1. Перечислите задачи систем диагностики
2. Какие блоки входят в состав
![Список контрольных вопросов 1. Перечислите задачи систем диагностики 2. Какие блоки входят](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/900445/slide-21.jpg)
систем тестирования?
3. Почему в системах тестирования используется генератор ПСП?
4. Приведите функциональную схему генератора ПСП
5. Какие методы обработки сигналов заложены в сигнатурном анализаторе?
6. Приведите функциональную схему сигнатурного анализатора
7. Как формируются коды циклического избыточного контроля?
8. Как выполняется тестирование микропроцессоров?
9. Как выполняется тестирование ПЗУ?
10. Какие существуют ограничения на сигнатурный анализ?