Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия

Условие дифракционного предела

Ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) был изобретен группой исследователей во главес Дитером Полем (лаборатория фирмы IBM, г. Цюрих, Швейцария) в 1982 году сразу вслед за изобретением туннельного микроскопа.

Certus NSOM - сканирующий оптический микроскоп ближнего поля

Схема получения ближнепольного оптического изображения в точке с использованием апертуры.

Различные методики ближнепольной оптической микроскопии с использованием апертуры.

Режим облучения зондом

Режим просачивания

Схема кварцевого камертонного резонатора (tuning-fork), используемого для поддержания обратной связи.

Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп Certus NSOM.

Тестовая ванадиевая решетка. Ближнепольное оптическое изображение.
Тестовая ванадиевая решетка. АСМ изображение. Топография.

Принцип работы СБОМ микроскопа