Слайд 2Структура курса
7 лабораторных работы (30 б.);
коллоквиум (10 б., 1-ая конференц-неделя 07.04.2014);
1 индивидуальное
задание (10 б., 2-ая конференц-неделя 09.06.2014);
10 б. за посещение всех лекций, лабораторных и практических занятий.
10 б. дополнительных (∑ ≤ 60 б.) – за успеваемость в семестре и работу на практических занятиях;
5 практических занятий (решение типовых задач);
11 лекций.
Слайд 3Основные ресурсы
ftp://ftp.vt.tpu.ru/study/Malchukov/public/Schem/
Базовая литература.doc;
Вопросы (теория).doc;
Пример титульного листа ИДЗ 8B1Х.doc;
Пример титульного листа ЛБ 8B1Х.doc;
Метод.ук.ЛБ_Схемотехника.pdf;
IDZ.url
(ссылка на ИДЗ);
Справочники (папка);
Лекции (папка);
schem_131017.pdf (учебное пособие).
Слайд 4Экзамен
Допуск
min 33 б. + 7 ЛБ.
Билет
1) 3 задачи (30 б.) – решение
в течение max 2-х часов.
2) 1 теоретический вопрос из списка (10 б.) – устно.
min 22 б.
Оценка
55 – 69 удовл.
70 – 89 хорошо
90 – 100 отлично
Слайд 6Интегральные схемы (ИС)
Изобретены в США в 1959 г. (Integrated Circuit – IC).
Составляют
основу элементной базы цифровых устройств (ЦУ).
ИС по уровню интеграции: МИС, СИС, БИС, СБИС.
ИС – представляет собой микроэлектронное устройство, рассматриваемое как единое изделие, содержащее, как правило, большое количество взаимосвязанных компонентов (транзисторы, диоды, конденсаторы, резисторы), изготовленная в едином технологическом цикле (одновременно) на одной и той же несущей конструкции (подложке) и выполняющая определенную функцию преобразования данных.
Слайд 7Понятие ИС и метод её изготовление
Элементы ИС (интегральные элементы) – компоненты, входящие
в состав ИС, которые не могут быть выделены из неё в качестве самостоятельных изделий.
Групповой метод – на одной пластине полупроводникового (ПП) материала одновременно изготавливается большое количество ИС, одновременно обрабатывается несколько пластин.
Отдельные кристаллы (chip) – получают после завершения определенных циклов изготовления, когда ПП разрезается в двух взаимно перпендикулярных направлениях.
Корпусирование – помещение ИС в корпус с присоединением лазерной сваркой контактных площадок к ножкам (pin) ИС.
Слайд 8Составляющие стоимости ИС и пути ее уменьшения
А – затраты на НИОКР по
созданию ИС;
В – затраты на технологическое оборудование, помещение и др.;
С – текущие расходы на материалы, электроэнергию, зарплату в пересчете на одну пластину;
z – количество чипов на пластине;
у – отношение годных ИС к количеству запущенных в производство;
x – количество кристаллов на пластину.
Слайд 9Типы интегральных схем по технологическому признаку
Полупроводниковая ИС – ИС, все элементы и
межэлементные соединения которой выполнены в объеме и на поверхности ПП кристалла.
Гибридная ИС – ИС содержат элементы, компоненты и кристаллы, а также межэлементные соединения, размещенные на поверхности диэлектрической подложки.
Пленочные ИС – содержат элементы и межэлементные соединения, выполненные на поверхности диэлектрической подложки.
Слайд 10Функциональная сложность ИС
Степень интеграции: K = lgN, где N – число транзисторов.
МИС
– К ≤ 2 (IC, Integrated Circuit, малой степени интеграции – SSI (small scale integration));
СИС – 2 < K ≤ 3 (средней степени интеграции – MSI (medium scale integration) , для аналоговых схем N < 500);
БИС – 3 < K ≤ 5 (большой степени интеграции – LSI (large scale integra-tion) для аналоговых N > 500);
СБИС – 5 < K (сверх большой степени интеграции – VLSI (very large scale integration)).
Слайд 11Понятие серии ИС
Серия ИС – совокупность типов ИС, обладающих конструктивной, электрической и
при необходимости информационной и программной совместимостью, предназначенных для совместного применения.
Тип ИС – ИС конкретного функционального назначения и определенного конструктивного технологического и схемотехнического решения, имеющая свое условное обозначение.
Типономинал ИС – ИС определенного типа, различающиеся по 1 или более параметрами и требованиями к внешним воздействующим факторам.
Слайд 12Условно графическое обозначение (УГО) логических элементов (ЛЭ)
Слайд 13Условное обозначение ИС
К М
КP 1533 ЛА3 – 4 ЛЭ 2-х вх.
И-НЕ
Слайд 14Элементы транзисторно-транзисторной логики (ТТЛ)
Многоэмиттерный транзистор – биполярный транзистор с несколькими эмиттерами (2,
3, 4, 8), объединенных общей базой. Эмиттеры расположены так, что непосредственное взаимодействие между ними через участок базы отсутствует.
Слайд 15Базовый элемент (БЭ) ТТЛ
Входной
ФР
Выходной
КАСКАДЫ:
входной
R1, VT1, VD1 – VD4;
фазорасщепительный
R2, VT2,
R3, R4, VT3;
выходной
VT4, VT5, VD5, R5
К, Э – расширения по ИЛИ
Слайд 16Повышения уровня выходного напряжения и фильтрующие C
Фильтрующие конденсаторы: керамический конденсатор возле каждого
корпуса ИС емкостью из расчета 0,01 мкФ на корпус ИС и один электролитический 0,1 мкФ на плате.
Слайд 18ЛЭ 2И-2ИЛИ-НЕ
Входной
ФР
Выходной
КАСКАДЫ:
входной
R1-2, VT1-2, VD1 – VD4;
фазорасщепительный
R3, VT3-4, R4;
выходной
R5, VT5, VT6, VD5
Слайд 19ЛЭ с открытым коллектором (ОК)
Входной
ФР
Выходной
КАСКАДЫ:
входной
R1, VT1, VD1 – VD4;
фазорасщепительный
R2,
VT2, R3;
выходной
VT3
Слайд 23Пример применения ЛЭ с 3-мя состояниями выхода