Методика определения среднего размера ансамбля нанокластеров на поверхности подложки при помощи методов РФЭС, ОЭС, ОРР
Содержание
- 2. Нанокластеры Au/ВОПГ СТМ и ПЭМ изображения нанокластеров Au Нанокластеры Au/SiO2 50×50 нм2 7×7 нм2 50×50 нм2
- 3. а б в г СТМ-изображения нанокластеров Au/ВОПГ, сформированных методом ИЛО за N=10 (a), 100 (б), 200
- 4. ПЭМ изображения нанокластеров Au, полученных магнетронным напылением на поверхность углеродной пленки и полученные из них распределения
- 5. h Приближение двумерной формы суммарная площадь кластеров общая площадь поверхности степень покрытия поверхности SΣ hэфф Интенсивность
- 6. Приближение полусферической формы суммарная площадь кластеров общая площадь поверхности степень покрытия поверхности SΣ R=d/2
- 7. Приближения: Ансамбль монодисперсных частиц, то есть полагается, что все частицы абсолютно одинакового размера Не учитывается эффект
- 8. Спектроскопия рассеяния медленных ионов. Классификация методов рассеяния ионов: - СРМИ (LEIS), Е=0,1 – 10 кэВ; -
- 9. СРМИ. Кинематический фактор. знак «+» при рассеянии на тяжелом атоме, знак «-» при рассеянии на легком
- 11. Скачать презентацию