Слайд 3Экспериментальные методы. I.
Анализ поперечных или продольных срезов (микротомия + рентгеноспектральный анализ, ИК-спектроскопия,
![Экспериментальные методы. I. Анализ поперечных или продольных срезов (микротомия + рентгеноспектральный анализ,](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/429061/slide-2.jpg)
микроскопия, химический анализ, колориметрия, рефрактометрия, ...)
Оптическое наблюдение (перемещение диффузионных фронтов, оптических и фазовых границ, интерферометрия)
Слайд 4Экспериментальные методы. I.
Послойный срез
Продольный срез
![Экспериментальные методы. I. Послойный срез Продольный срез](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/429061/slide-3.jpg)
Слайд 5Экспериментальные методы. I.
Электроннозондовый рентгеноспектральный микроанализ
Срез (шлиф) с малой (субмикронной) шероховатостью
Вакуум (не хуже
![Экспериментальные методы. I. Электроннозондовый рентгеноспектральный микроанализ Срез (шлиф) с малой (субмикронной) шероховатостью](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/429061/slide-4.jpg)
10-4 торр)
Устойчивость к облучению электронами
Наличие элементов, удобных для спектрального анализа (бром, йод, кислород, металлы...)
Возможность контрастирования
Слайд 6Экспериментальные методы. I.
Сканирующая ИК-спектроскопия
Срез с малой шероховатостью и малой толщиной
На просвет (концентрация
![Экспериментальные методы. I. Сканирующая ИК-спектроскопия Срез с малой шероховатостью и малой толщиной](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/429061/slide-5.jpg)
- из закона Бугера-Ламберта-Бэра)
Длительные времена экспозиции
Слайд 7Экспериментальные методы. I.
Интерференционный метод (интерферометрия)
![Экспериментальные методы. I. Интерференционный метод (интерферометрия)](/_ipx/f_webp&q_80&fit_contain&s_1440x1080/imagesDir/jpg/429061/slide-6.jpg)