Исследование свойств шунгита

Методы исследования
Исследование проводилось
с помощью электронного микроскопа
на факультете физики
в РГПУ им. А.И.Герцена

Изображения поверхности шунгита
в электронном микроскопе

Пиков не пропущено
Параметры обработки : Все элементы (Нормализован)
Количество итераций = 5
Эталон :
C CaCO3 1-июн-1999 12:00 AM
O SiO2 1-июн-1999 12:00 AM
Mg MgO 1-июн-1999 12:00 AM
Al Al2O3 1-июн-1999 12:00 AM
Si SiO2 1-июн-1999 12:00 AM
S FeS2 1-июн-1999 12:00 AM
K MAD-10 Feldspar 1-июн-1999 12:00 AM
Fe Fe 1-июн-1999 12:00 AM