Память ROM

Содержание

Слайд 2

Постоянные запоминающие устройства ROM (Read-Only Memory)

Используются для хранения неизменяемой информации: загрузочных программ

Постоянные запоминающие устройства ROM (Read-Only Memory) Используются для хранения неизменяемой информации: загрузочных
ОС, программ BIOS, тестовых программ.

Программируемые при изготовлении – классические ROM

Однократно программируемые после изготовления PROM

Многократно программируемые EPROM

Энергонезависимая

Слайд 3

Классические ПЗУ – масочные диодные и транзисторные, лазерные

Выборка
слова

Выборка разряда слова

Увеличивают толщину подзатворного

Классические ПЗУ – масочные диодные и транзисторные, лазерные Выборка слова Выборка разряда
окисла.
За счет этого транзистор не включается
при подаче рабочего напряжения.

Слайд 4

Однократно программируемые ПЗУ PROM и EPROM-OTP

Информация однократно записывается потребителем.

Плавкая перемычка

Встречно включенные диоды

Плавкая

Однократно программируемые ПЗУ PROM и EPROM-OTP Информация однократно записывается потребителем. Плавкая перемычка
перемычка

1

0

0

1

1

0

Слайд 5

Многократно программируемые ПЗУ

EPROM (Erasable Programmable ROM) – стираемые программируемые ПЗУ.
EEPROM (Electrically

Многократно программируемые ПЗУ EPROM (Erasable Programmable ROM) – стираемые программируемые ПЗУ. EEPROM
Erasable Programmable ROM) – электрически стираемые программируемые ПЗУ.
Флэш-память.

Слайд 6

EPROM и EEPROM

Основной режим - чтение, выполняется с большой скоростью.
Чтобы заменить информацию

EPROM и EEPROM Основной режим - чтение, выполняется с большой скоростью. Чтобы
микросхема выводится из рабочего режима и подвергается воздействию ультрафиолетом или электрическими сигналами. При этом информация удаляется полностью.
Основа данных ЗУ – МОП транзисторы, над каналами которых созданы области – ловушки способные захватывать и удерживать электрический заряд. Репрограммирование это удаление или создание заряда.

Слайд 7

Структуры транзисторов с с зонами хранения зарядов MNOS (Metal-nitrid-oxide-semicondaductor)

Отсутствие или наличие заряда

Структуры транзисторов с с зонами хранения зарядов MNOS (Metal-nitrid-oxide-semicondaductor) Отсутствие или наличие
создают
условия хранения 0 или 1.

Заряд записывают, создавая под затвором
напряженность электрического поля,
достаточную для возникновения тунельного
перехода электронов через слой двуокиси кремния.

Срок хранения до десятков лет. Количество перезаписей до 1000000.

ЛОВУШКА1

Слайд 8

Транзисторы с плавающим затвором

Используются в ЗУ с
ультрафиолетовым стиранием
электрической записью.

Запись 0 –

Транзисторы с плавающим затвором Используются в ЗУ с ультрафиолетовым стиранием электрической записью.
записывается путем приложение к
P-n переходу повышенного напряжения и
за счет этого в область плавающего
затвора вводится заряд инжекцией электронов.
За счет этого создается проводящий канал.

ЛИЗМОП транзистор

Отсутствует управление по затвору.

Слайд 9

Транзисторы с двумя затворами

Применяется в ЗУ с
электрической записью и
стиранием.

Заряженный электронам

Транзисторы с двумя затворами Применяется в ЗУ с электрической записью и стиранием.
плавающий затвор увеличивает пороговое
напряжение транзистора так, что при подаче рабочего напряжения
на затвор транзистор не работает, проводящий канал не образуется.

Программирование - подача высокого
напряжения на затвор и сток.
Стирание – подача низкого напряжения
на затвор и высокого на исток.

Слайд 10

EPROM и EPROM-OTR

Запоминающий элемент состоит из обычного транзистора для выборки адреса и

EPROM и EPROM-OTR Запоминающий элемент состоит из обычного транзистора для выборки адреса
ЛИЗМОП транзистора, выполняющего роль программируемой перемычки.

(One Time Programmable)

Число циклов УФ стирания ограничено до 1000 раз.

К573 имеет емкость 1 Мбит и время доступа 350 нс.
Микросхемы имеют специальное окно для УФ лучей.

Современные EPROM
Обладают емкостью до
32Мбит и доступом 70-100 нс.

Слайд 11

EEPROM

Длительность процесса «стирание –запись» значительно меньше , чем у EPROM. Допускает до

EEPROM Длительность процесса «стирание –запись» значительно меньше , чем у EPROM. Допускает
100000 циклов.

Современные EEPROM обладают емкостью до 4 Мбит и работают на 50 МГц.

Стирание – запись единиц

Слайд 12

Пример структуры EPROM фирмы Cypress Semicondactor

4 кбит при организации 512 на 8,

Пример структуры EPROM фирмы Cypress Semicondactor 4 кбит при организации 512 на
время доступа 25 нс.

Слайд 13

Флэш- память

По основным принципам работы сходна с EEPROM, но имеет структурные и

Флэш- память По основным принципам работы сходна с EEPROM, но имеет структурные
технологические особенности. Для заряда плавающих затворов используется лавинная инжекция, а для стирания – тунелирование электронов через тонкий слой диэлектрика (эффект Нордхайма-Фаули).
Стирание производится блоками.

Флэш на основе ИЛИ-НЕ
NOR

Флэш на основе И-НЕ
NAND

Два типа схемотехники

Слайд 14

Флэш на ячейках ИЛИ-НЕ (NOR)

Полезная приемственность с ЗУ предшествениками

Каждый столбец –
группа ячеек

Флэш на ячейках ИЛИ-НЕ (NOR) Полезная приемственность с ЗУ предшествениками Каждый столбец
ИЛИ-НЕ

При работе ячейки столбца – все транзисторы
заперты, кроме транзистора выбранной строки

Для NOR микросхем размер стираемого блока варьируется
от единиц до сотен кБайт, сектор записи — от единиц до
сотен байт, страница чтения — единицы-десятки байт

Количество циклов до 100000
Время хранения 10-20 лет.

Имя файла: Память-ROM.pptx
Количество просмотров: 164
Количество скачиваний: 0