Элементы строения вещества

Содержание

Слайд 2

Список литературы

Обязательная:
1. Вилков Л.В., Пентин Ю.А. Физические методы исследования в химии. М:Мир.

Список литературы Обязательная: 1. Вилков Л.В., Пентин Ю.А. Физические методы исследования в
АСТ. 2003, 683 с, 2004.
2. Пентин Ю.А., Курамшина Г.М. Основы молекулярной спектроскопии. М.«МИР». БИНОМ. Лаборатория знаний. 2008. 398 с.
3. Бахшиев Н.Г. Введение в молекулярную спектроскопию. Л: ЛГУ 1974, 1978, 215 с.
4. Левшин Л.В., Салецкий А.М. Люминесценция и ее измерение. М: МГУ, 1989, 255 с.
5.Трофимова Т.И. Оптика и атомная физика: законы, проблемы, задачи. М. «Высшая школа» 1999. (с.238-244).
6. Кнорре Д.Т., Крылова Л.Ф., Музыкантов В.С. Физическая химия. М: «Высшая школа». 1981, (с.159-164).
7. Кобаяси Н. Введение в нанотехнологию. М: БИНОМ, 2005. 135 с.
8. Хартман У. Очарование нанотехнологии. М: БИНОМ, 2008.173 с.
9. Балабанов В. Нанотехнологии. Наука будущего. М: ЭКСМО, 2009. 247с.
10. Презентация курса лекций: Кузнецова Р.Т. «ФМИ в строении вещества».

Слайд 3

Дополнительная

1. Кизель В.А. Практическая молекулярная спектроскопия. М: МФТИ. 1998, 255 с.
2. Сидоренко

Дополнительная 1. Кизель В.А. Практическая молекулярная спектроскопия. М: МФТИ. 1998, 255 с.
В.М. Молекулярная спектроскопия биологических сред. М: «Высшая школа». 2004. 190 с.
3. Теренин А.Н. Фотоника молекул красителей. Л: Наука. 1967. 616 с.
4. Шипунов Б. П. Строение вещества. Ч.1. Барнаул: Алтайский ГУ, 2007, 218 с.
5. Пул Ч., Оуэнс Ф. Нанотехнологии. Пер. с англ. М.Техносфера. 2005. 334 с.
6. Г.С.Лансберг. Оптика, М. «Физматлит», 2003, с.699-750
7. Доменикано А., Харгиттаи И. Молекулярные структуры. М. "Мир", 1997.
8. Купцов А.Х., Жижин Г.Н. Фурье КР и ИК спектры полимеров. М. "Физматлит", 2001.
9.Миронов А.В., С.А.Янковский. Спектроскопия в органической химии М. Химия, 1985.
10. Дж. Лакович. Основы флуоресцентной спектроскопии. М. «Мир», 1986. 496 с.

Слайд 4

Общая схема фундаментального исследования

ПЗ: оператор А действует на Z, получаем набор проявлений

Общая схема фундаментального исследования ПЗ: оператор А действует на Z, получаем набор
U
ОЗ: надо найти оператор R=A-1, чтобы из U найти Z –структурные параметры объекта

Слайд 5

Прямая и обратная задачи методов

Прямая – нахождение свойств, соответствующих данной структуре (задача

Прямая и обратная задачи методов Прямая – нахождение свойств, соответствующих данной структуре
всегда корректная):
АZ=U
А-оператор (прибор)
Z – параметры вещества (масса атома, длина связи, распределение электронной плотности)
U – свойства (спектры, дифракционные картины, проводимость и т.п.)
Всегда (имея нужный прибор) можно определить свойства U, т.е. изменение Z под действием А, они будут точно характеризовать существующую структуру – решение единственное, т.е. прямая задача корректная.

Слайд 6

Обратная задача: по полученным свойствам (U) надо определить неизвестную структуру (Z): R(U)

Обратная задача: по полученным свойствам (U) надо определить неизвестную структуру (Z): R(U)
–> A-1(U) –> Z

Обратная задача не всегда корректна: (математически решить обратную задачу можно корректно, если:
1. решение существует вообще, т.е. существует оператор R=A-1
2. решение должно быть единственным
3. решение должно быть устойчивым (непрерывность R)
Физически это означает, что
1. при решении обратной задачи надо знать свойства оператора А (принцип действия, точность, чувствительность метода), чтобы найти ему обратный: R=1/А (т.е. интерпретировать полученные результаты, связав структурный параметр с измеренной величиной);
2. число уравнений (методов) должно быть достаточным, т.е. измерять свойства надо несколькими методами, нельзя определить длину связи в молекуле, только имея вращательный спектр, нужны еще другие данные (например, приведенная масса молекулы);
Единственность решения связана с возможностью совпадения значений параметра, определенного разными методами, и понятием характеристического времени метода.
3. Устойчивость решения связана с проблемами точности и чувствительности используемых приборов: значения параметров, полученные в эксперименте, должны отличаться от истинных на малую величину, чтобы можно было найти A-1, если отличия велики, оператор будет ошибочный, т.е. неправильно определена структура.

Слайд 7

Общие характеристики методов исследования

1. Спектроскопические: основаны на взаимодействии внешнего электромагнитного излучения с

Общие характеристики методов исследования 1. Спектроскопические: основаны на взаимодействии внешнего электромагнитного излучения
собственными (разрешенными) энергетическими состояниями вещества (постулаты Бора): Е0, Е1 ... и т.д.: (вращательные, колебательные, электронные), в результате которого возникает спектр. ΔЕ=hν, h=6,63 10-34 Дж-с
Спектр –зависимость какого-либо проявляющегося физического свойства (интенсивности, тока, степени поляризации и т.п.) от какого-либо параметра действующего электромагнитного поля (частоты, длины волны, энергии кванта и т.п.)
2.Резонансные: возникновение резонансного спектра основано на взаимодействии внешнего электромагнитного излучения определенной области спектра с резонансными энергетическими состояниями, возникающими в веществе вследствие взаимодействия другого внешнего поля – например, магнитного - со спинами, т.е. собственными магнитными моментами ядер – ЯМР, или электронов - ЭПР.
ЯКР-расщепление ядерного энергетического уровня возникает при взаимодействии квадрупольного момента ядра, когда дипольный момент ядра=0, с неоднородным распределением электронной плотности вблизи этого ядра, т.е. образуются резонансные состояния. В ЯГР возникает резонанс при совпадении Δνотд=(νпогл- νизл)/2 и допплеровского смещения Δνдоппл излучающих движущихся источников ядерного гамма-излучения.

Слайд 8

Общие характеристики методов исследования

3. Дифракционные: основаны на дифракции (упругом рассеянии эл.магнитных волн)

Общие характеристики методов исследования 3. Дифракционные: основаны на дифракции (упругом рассеянии эл.магнитных
рентгеновского излучения, пучков электронов, нейтронов и.т.д. на исследуемых структурах: ядрах, электронах - в результате чего возникают вторичные волны, при интерференции которых с первичными образуется дифракционная картина. На основании дифракционной картины и теоретических оценок можно определить структурные параметры вещества (кристалла).
4. Другие: Масс-спектрометрия – основана на распределении молекулярных ионов по массам в электромагнитных полях;
определение дипольных моментов молекул основано на изменении электрического поля под влиянием вещества с определенной диэлектрической проницаемостью, связанной с дипольным моментом молекул, образующих это вещество;

Слайд 9

Шкала электромагнитных волн и представление излучения как потока фотонов

Шкала электромагнитных волн и представление излучения как потока фотонов

Слайд 10

Спектроскопические и резонансные методы в шкале электромагнитных волн

Спектроскопические и резонансные методы в шкале электромагнитных волн

Слайд 11

Характеристическое время метода

Для получения правильных данных о строении вещества необходимо учитывать характеристическое

Характеристическое время метода Для получения правильных данных о строении вещества необходимо учитывать
время метода исследования – время взаимодействия излучения с исследуемой структурой.
Важно выбрать такой метод, чтобы за время взаимодействия электромагнитного поля с веществом его структура не изменилась. Например, для PF5 характерно псевдовращение Берри – внутримолекулярный переход от одной конфигурации к другой. Структура этой молекулы, установленная по спектрам ЯМР, отличается от результатов, полученных методом электронографии (дифракция электронов) или электронной спектроскопии, но решение обратной задачи корректно, поскольку характеристическое время этих методов различается.
Понятие характеристического времени метода вытекает из принципа Гейзенберга:
(неопределенности) : ΔЕ Δt≥ h/2π,
ΔЕ=hν, Δt ≥ (h/2π)/hν ≥ 1/(2π ν) ≥ λ /2πс,
22
т.е. чем больше частота электромагнитного поля, которым исследуется вещество, тем меньше характеристическое время метода. Поэтому при исследовании методом электронографии (λ =1пм) псевдовращение не успевает осуществиться (Δt=5 10-22 с), мы видим структуру №1, а при измерении методом ЯМР (λ =5 м) структура успевает измениться до №2 (характеристическое время ≥3 10-8 с).
В зависимости от задачи следует выбирать нужный метод, для которого характеристическое время (Δ t ≥ 1/2π ν) определяется как величина, обратно пропорциональная частоте квантовых переходов системы (частоте взаимодействующего с объектом электромагнитного излучения), которая может этим методом исследоваться.

Слайд 12

Спектроскопические методы:

ΔЕ=Е1-Е2 = hν =hc/λ; Е1 и Е2 = собственные энергетические состояния

Спектроскопические методы: ΔЕ=Е1-Е2 = hν =hc/λ; Е1 и Е2 = собственные энергетические
системы, ν и λ частота и длина волны электромагнитного излучения; спектр –зависимость интенсивности поглощения (излучения) от длины волны (или 1/λ) воздействующего электромагнитного излучения, т.е. получая спектр, можно определить набор собственных энергий.

Слайд 13

Дифракционные методы. Дифракция электромагнитного излучения I0 на двухатомной молекуле

Дифракционная картина обусловлена волновыми свойствами

Дифракционные методы. Дифракция электромагнитного излучения I0 на двухатомной молекуле Дифракционная картина обусловлена
излучения и потока частиц. Из уравнения де Бройля для потока частиц: λ=hc/E=h/(mv), где mv – масса и скорость частицы, определяется длина волны потока частиц.
При λ≅r<Разность хода=Δ(С)=OB-AO’ ; Δ(С)= r(sinα1-sinα2)=nλ - условие максимума интерференционной картины –светлая полоса;
Δ(С)= r(sinα1-sinα2)=(2n+1)λ/2 – условие минимума – темная полоса. Для определения соотношения r и λ:
λ=(r/n)(sinα1-sinα2); чтобы получилась интерференц. картина, т.к. (sinα1-sinα2)/n<1; надо r>λ.

Слайд 14

Резонансные методы: спектры ядерного магнитного резонанса (ЯМР), ядерного квадрупольного резонанса (ЯКР), электронного

Резонансные методы: спектры ядерного магнитного резонанса (ЯМР), ядерного квадрупольного резонанса (ЯКР), электронного
парамагнитного резонанса (ЭПР), ядерного гамма-резонанса (ЯГР)

Резонансные, потому, что получаются в результате резонанса (совпадения энергии кванта) внешнего электромагнитного поля и расщепления собственных энергетических уровней при взаимодействии собственного спина с внешним магнитным полем.
Спектры ЯМР существуют в магнитном поле только для элементов, ядра которых имеют собственный магнитный момент (спин) отличный от 0 (Н, Li, Be, В, F, К –нечетное масс. число, любой порядковый номер: I=1/2, 3/2…; или D, N –четное массовое число, нечетный порядковый номер: I=1, 2…).
Спектры ЭПР можно получить для молекул и ионов, имеющих неспаренный электрон, т.е. суммарный спин электронов, отличный от 0 (комплексы переходных металлов, радикалы, триплетные состояния и т.п.).
Эти методы тоже спектроскопические: спектры в радиочастотном – ЯМР, ЯКР и микроволновом – ЭПР диапазоне. Спектры ЯГР- гамма-диапазон (пикометры), но измеряются в мм/с.

Слайд 15

Значение ФМИ

Изучение ФМИ необходимо для:
1. Решения фундаментальных проблем химии – установления связи

Значение ФМИ Изучение ФМИ необходимо для: 1. Решения фундаментальных проблем химии –
строения вещества с физико-химическими свойствами для дальнейшего целенаправленного получения новых веществ с заранее заданными свойствами.
2. Постановки новых задач, решение которых способствует развитию как теории химического строения, так и теории реакций. Например, энергия разрыва связи в молекуле Н2 больше, чем в Н2+, это согласуется с теорией, а в молекулах и ионах щелочнах металлов – наоборот, что требует изучения.
3. Получения новых экспериментальных данных на нано- и субнаноуровне для современной теоретической и квантовой химии и развития нанотехнологий.

Слайд 16

Современный уровень развития ФМИ

1. Уровень физических методов определяется использованием современного оборудования и

Современный уровень развития ФМИ 1. Уровень физических методов определяется использованием современного оборудования
переживает в настоящее время бурный прогресс, обусловленный развитием нанотехнологий.
2. Этот процесс начался еще в середине прошлого века с усовершенствования методов масс-спектрометрии, обусловленного потребностями ядерной физики и химии (открыт Дж.Томсоном, развит Ф.Астоном, А.Демпстером).
3. Явление ЭПР в 1944 г. было открыто Е.К.Завойским, профессором Казанского университета. Метод ЯМР (ПМР) разработали американские физики Ф.Блох и Э.Парселл 1946 г.
4. Открытие эффекта комбинационного рассеяния (КР) было совершено в первой половине прошлого века нашими учеными Л.Мандельштамом и Г.Ландсбергом и индийским ученым Ч.Раманом. Резонансное КР открыто Шорыгиным П.П.
5. Существенно увеличилась значимость этих открытий с созданием оптических квантовых генераторов - лазеров, за разработку которых в 1956 получили Нобелевскую премию Н.Г.Басов, А.М.Прохоров и Ч.Таунс, а в 2002 г. - Ж.И.Алферов (разработка ПП–гетероструктур для ПП-диодов и лазеров).
6. Идея создания вещества методом «поштучной атомарной» сборки (Р.Фейнман, 1959), в настоящее время начало реализации (фуллерены, графены), (создание «нанофабов»). (А.Гейм, К.Новоселов 2010) нобелевская премия за графен. Компьютеризация исследований, создание первых сканирующих атомно-силовых микроскопов для визуального изучения поверхности с точностью до 0.4 нм (корпорация IBM, 1986).

Слайд 17

Перспективы развития ФМИ

1. Усовершенствование лазеров для дальнейшего применения в исследовании фотохимии и

Перспективы развития ФМИ 1. Усовершенствование лазеров для дальнейшего применения в исследовании фотохимии
производстве (практически не использованы такие качества как когерентность и поляризация излучения).
2.Использование современных технологий и новых материалов для визуализации микро- и нанообъектов в реальном времени и масштабе с высоким разрешением (1 А) на экране компьютерного монитора.
3. Создание измерительно-производственных комплексов, позволяющих синтезировать новые материалы с одновременным контролем их качества на молекулярном и нано-уровне («нанолабы+нанофабы»).
4. Дальнейшая компьютеризация экспериментальных и теоретических исследований строения вещества.

Слайд 18

Методы вращательной спектроскопии: (λ=30 мм – 30 мкм), (ν=с/λ=103-105МГц)

Методы основаны на

Методы вращательной спектроскопии: (λ=30 мм – 30 мкм), (ν=с/λ=103-105МГц) Методы основаны на
взаимодействии энергии внешнего электромагнитного поля Е=hν с внутренней энергией молекулы, ее собственными энергетическими состояниями: в квантовой системе разрешены состояния, определяемые набором 4 квантовых чисел: n, l, m, s
Евнутр=Еэл+Екол+Евр +Еэл,кол+Екол,вр+Еэл,вр.
Согласно приближению Борна-Оппенгеймера и Хартри-Фока: Еэл,кол+Екол,вр+Еэл,вр<<Еэл+Екол+Евр; Квантовая система имеет собственную энергию, которая определяется при решении уравнения Хартри-Фока: Еэл:Екол:Евр ≅ 1:10-2:10-5
Т.о., энергия эл.магнитного поля сообщается квантовой системе, в результате чего система переходит из одного разрешенного состояния в другое: ΔЕ=hν=Δ(Еэл+Екол+Евр)= ΔЕэл+ΔЕкол+ΔЕвр=hνэл +hνкол+hνвр; возникает спектр: зависимость интенсивности перехода от частоты воздействующего эл-магнитного поля.
hνэл : 1/λ=1/1000-1/200 нм=10000 – 50000 см-1 – электронная спектроскопия
hνкол : 1/λ= 200 – 5000 см-1 – колебательная спектроскопия
hνвр : 1/λ= 0.03 – 100 см-1 – вращательная (микроволновая) спектроскопия

Слайд 19

Образование электронно-колебательно-вращательного спектра

Поскольку Еэл:Екол:Евр ≅ 1:10-2:10-5,
в каждой квантовой системе существует набор

Образование электронно-колебательно-вращательного спектра Поскольку Еэл:Екол:Евр ≅ 1:10-2:10-5, в каждой квантовой системе существует
электронных состояний: Еэл от 10000 – 50000 см-1
Каждому электронному состоянию соответствует набор колебательных энергетических уровней;
Каждому колебательному состоянию соответствует набор вращательных энергетических уровней;
Переходы между состояниями образуют спектр:
При ΔЕэл=0 и ΔЕкол=0,но ΔЕвр≠0: вращательный спектр; 33300 нм
При ΔЕэл=0, но Екол≠0 и ΔЕвр≠0: колебательно-вращательный спектр; 3000 нм
При ΔЕэл≠ 0, Екол≠0 и ΔЕвр≠0: электронно-колебательно-вращательный спектр; 200 нм
Имя файла: Элементы-строения-вещества.pptx
Количество просмотров: 53
Количество скачиваний: 0