Сканирующая туннельная спектроскопия. Туннельные и дифференциальные туннельные ВАХ

Содержание

Слайд 2

Физические основы СТМ

Туннелирование электрона через потенциальный барьер:
одномерная задача для свободного электрона

Обратная

Физические основы СТМ Туннелирование электрона через потенциальный барьер: одномерная задача для свободного
длина затухания к ~ 1 А-1

Коэффициент пропускания

при

Экспоненциальная зависимость туннельного тока ширины барьера:

при увеличении ширины барьера (расстояния между зондом и образцом) на 1 Å туннельный ток уменьшится в ~ 7 раз:

Слайд 3

Туннелирование электрона между металлами

Если kT<< eV
Если

Нет контакта

V=0

V>0

V<0

Туннелирование электрона между металлами Если kT Если Нет контакта V=0 V>0 V

Слайд 4

Сканирующая туннельная спектроскопия.

Дифференциальная туннельная проводимость

Сканирующая туннельная спектроскопия. Дифференциальная туннельная проводимость

Слайд 5

Данные СТС: Электронная локализация в двумерных шероховатых кластерах Аu

Дифференциальные ВАХ для ВОПГ

Данные СТС: Электронная локализация в двумерных шероховатых кластерах Аu Дифференциальные ВАХ для
(1), 3D кластера Au (2), 2D кластера Au (3), адатомов Au (4) и металлического золота(5).

Туннельные вольтамперные характеристики ВОПГ (1) и различных участков одного кластера Au (размер ~2 нм) с локальной высотой 0.3 нм (2), 0.6 нм (3) и 0.9 нм (4).

Нанокластер Au неоднородной высоты:
ВАХ в различных точках одного кластера различаются, туннельный ток зависит от локальной высоты кластера;
2. Нанокластеры различного размера и высоты:
Дифференциальные ВАХ кластеров Au в диапазоне приклажываемых напряжений V=±0.3 В имеют пик в окрестности энергии Ферми.

ЭТИ РЕЗУЛЬТАТЫ МОГУТ СВИДЕТЕЛЬСТВОВАТЬ О СУЩЕСТВОВАНИИ ЛОКАЛИЗОВАННЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ В КЛАСТЕРАХ AU С ШЕРОХОВАТОЙ ГРАНИЦЕЙ.

Слайд 6

L – ширина пластины
– величина флуктуаций на границе

Граничные условия на волновую

L – ширина пластины – величина флуктуаций на границе Граничные условия на
функцию

Граничное условие на фазу волновой функции

Слайд 7

ПЕРЕХОД К ГЛАДКИМ ГРАНИЧНЫМ УСЛОВИЯМ

СООТВЕТСТВУЮЩЕЕ ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ИМПУЛЬСОВ

! ! ! ВОЗМУЩАЮЩИЙ ПОТЕНЦИАЛ !

ПЕРЕХОД К ГЛАДКИМ ГРАНИЧНЫМ УСЛОВИЯМ СООТВЕТСТВУЮЩЕЕ ПРЕОБРАЗОВАНИЕ ИМПУЛЬСОВ ! ! ! ВОЗМУЩАЮЩИЙ ПОТЕНЦИАЛ ! ! !
! !

Слайд 8

ФЛУКТУИРУЮЩИЙ ПОТЕНЦИАЛ

, где

ПОЛУЧИМ УРАВНЕНИЕ НА ФАЗУ ВОЛНОВОЙ ФУНКЦИИ

УРАВНЕНИЕ ФОККЕРА ПЛАНКА

ФЛУКТУИРУЮЩИЙ ПОТЕНЦИАЛ , где ПОЛУЧИМ УРАВНЕНИЕ НА ФАЗУ ВОЛНОВОЙ ФУНКЦИИ УРАВНЕНИЕ ФОККЕРА ПЛАНКА

Слайд 9

СПЕКТРАЛЬНАЯ ПЛОТНОСТЬ СОСТОЯНИЙ
ДЛЯ ОДНОМЕРНОЙ СИСТЕМЫ

ПЛОТНОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ ДЛЯ ПЛЕНКИ ВЫСОТОЙ

СПЕКТРАЛЬНАЯ ПЛОТНОСТЬ СОСТОЯНИЙ ДЛЯ ОДНОМЕРНОЙ СИСТЕМЫ ПЛОТНОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ СОСТОЯНИЙ ДЛЯ ПЛЕНКИ ВЫСОТОЙ L
L

Слайд 10

Плотность состояний в двумерной системе с наличием случайного потенциала. ( )
Штриховая линия

Плотность состояний в двумерной системе с наличием случайного потенциала. ( ) Штриховая
соответствует расчетной плотности состояний в приближении двумерного свободного электронного газа.

Локализация электронов в разупорядоченных поверхностных атомных слоях ИЛО нанокластеров

R - радиус корреляций, l – средняя амплитуда

Переход к гладким граничным
условиям приводит к появлению случайного потенциала

,

Слайд 11

корреляция между высотой h и
латеральным размером d кластеров Au

Туннельная

корреляция между высотой h и латеральным размером d кластеров Au Туннельная проводимость
проводимость при малых
напряжениях отражает электронную
плотность состояний на энергии Ферми

СРАВНЕНИЕ РАСЧЕТНОЙ ПЛОТНОСТИ СОСТОЯНИЙ С ИЗМЕРЯЕМОЙ ТУННЕЛЬНОЙ ПРОВОДИМОСТЬЮ

d, нм

h, нм

Имя файла: Сканирующая-туннельная-спектроскопия.-Туннельные-и-дифференциальные-туннельные-ВАХ.pptx
Количество просмотров: 49
Количество скачиваний: 0