Проскальзывание фазы, поглощение электромагнитного излучения и формирование отклика в детекторах на основе узких полосок сверхп

Содержание

Слайд 2

Структура диссертации

Гл. 1 - обзорная
Гл. 2. Теоретический анализ работы сверхпроводникового детектора на

Структура диссертации Гл. 1 - обзорная Гл. 2. Теоретический анализ работы сверхпроводникового
кинетической индуктивности
Гл. 3. Проскальзывание фазы в диффузной сверхпроводящей нанопроволоке
Гл. 4. Оптимизация сверхпроводникового однофотонного детектора

Слайд 3

Глава 2

Теоретический анализ работы сверхпроводникового детектора на кинетической индуктивности
Поглощение электромагнитного излучения и

Глава 2 Теоретический анализ работы сверхпроводникового детектора на кинетической индуктивности Поглощение электромагнитного
формирование индуктивного отклика в «грязном» одномерном сверхпроводнике в присутствие тока, сравнимого с током распаривания

Слайд 4

Эквивалентная схема детектора на кинетической индуктивности

Заданный ток смещения Ib распределяется между

Эквивалентная схема детектора на кинетической индуктивности Заданный ток смещения Ib распределяется между
двумя ветвями сверхпроводящей петли. Изменение кинетической индуктивности детектора δLk, приводит к изменению тока через правую ветвь на δI, Соответствующее изменение магнитного потока регистрируется СКВИДом. При условии, что индуктивность правой ветви Ls, много больше индуктивности кинетической индуктивности детектора Lk , отклик магнитного потока есть

ћω

δΦ=IbδLk

Слайд 5

Эквивалентная схема детектора на кинетической индуктивности

Заданный ток смещения Ib распределяется между

Эквивалентная схема детектора на кинетической индуктивности Заданный ток смещения Ib распределяется между
двумя ветвями сверхпроводящей петли. Изменение кинетической индуктивности детектора δLk, приводит к изменению тока через правую ветвь на δI, Соответствующее изменение магнитного потока регистрируется СКВИДом. При условии, что индуктивность правой ветви Ls, много больше индуктивности кинетической индуктивности детектора Lk , отклик магнитного потока есть

ћω

δΦ=IbδLk

Поскольку малость отклика составляет одну из главных проблем, интересны большие токи

Слайд 6

Длинный одномерный сверхпроводник

a

L>>ξ(T)

Низкая температура

Т~Tc−T

Al: ξ=200 нм

NbN: ξ=4 нм

MoRe: ξ=15 нм

Длинный одномерный сверхпроводник a L>>ξ(T) Низкая температура Т~Tc−T Al: ξ=200 нм NbN:

Тонкие плёнки

Критерий
одномерности

ξ в реальных образцах

Слайд 7

Поглощение в сверхпроводнике в бестоковом случае

Отклик кинетической индуктивности при низкой температуре в

Поглощение в сверхпроводнике в бестоковом случае Отклик кинетической индуктивности при низкой температуре в бестоковом случае
бестоковом случае

Слайд 8


Спектральные функции

g – «параметр распаривания», фигурирующий в уравнении Узаделя и

Спектральные функции g – «параметр распаривания», фигурирующий в уравнении Узаделя и определяющий
определяющий влияние сверхтока на спектральные функции

g

J/Jc

Слайд 9

Исходные уравнения

Состояние грязного сверхпроводника в методе Узаделя описывается матричной квзиклассической функцией Грина

.

Исходные уравнения Состояние грязного сверхпроводника в методе Узаделя описывается матричной квзиклассической функцией

.
Компоненты

представляют собой матрицы в пространстве Намбу
,

Уравнение Узаделя:

Градиентные члены устранены калибровочным преобразованием. Это возможно благодаря пространственной однородности задачи

Слайд 10

Электрон-фотонный источник

Член источника получается из келдышевой части уравнения Узаделя

Монохроматический сигнал

f – функция

Электрон-фотонный источник Член источника получается из келдышевой части уравнения Узаделя Монохроматический сигнал
распределения квазичастиц

в термодинамическом равновесии, fL=tanh(E/2T)

Слайд 11

Электрон-фотонный источник

В линейном по поглощаемой мощности приближении, функции распределения и когерентные факторы

Электрон-фотонный источник В линейном по поглощаемой мощности приближении, функции распределения и когерентные
в члене источника – равновесные

Нормированная на скорость электрон-фотонных столкновений функция источника, рассчитанная
для различных значений параметра распаривания g. Положено ω0=5Δ, Т=0.
Пунктир соответствует нормальному металлу.

Слайд 12

Вычисление когерентных факторов

Запаздывающее уравнение Узаделя

Уравнение самосогласования

Ф - параметризация

Вычисление когерентных факторов Запаздывающее уравнение Узаделя Уравнение самосогласования Ф - параметризация

Слайд 13

Линеаризованные кинетические уравнения

Линейное приближение:

,

,

,

- равновесные функции распределения

Линеаризованные кинетические уравнения Линейное приближение: , , , - равновесные функции распределения
квазичастиц и фононов,

Линеаризованное кинетическое уравнение для квазичастиц

Слайд 14

Линеаризованное кинетическое уравнение для фононов

где

- скорость поглощения фононов с порождением квазичастиц,

-

Линеаризованное кинетическое уравнение для фононов где - скорость поглощения фононов с порождением
скорость ухода фононов в подложку

Выражение для кинетической индуктивности

Линеаризованные кинетические уравнения

и его линеаризация

Слайд 15

Результаты численных расчётов

Функции распределения неравновесных квазичастиц, рассчитанные численно при нескольких
значениях параметра

Результаты численных расчётов Функции распределения неравновесных квазичастиц, рассчитанные численно при нескольких значениях
распаривания g. Пунктирные кривые
соответствуют режиму ``фононного термостата'', сплошные кривые -
режиму ``эффективно запертых фононов''

Слайд 16

Результаты численных расчётов

Функции распределения неравновесных фононов, рассчитанные
численно при тех же значения

Результаты численных расчётов Функции распределения неравновесных фононов, рассчитанные численно при тех же
параметра распаривания g, что и
неравновесные функции распределения квазичастиц на предыдущем рисунке

Слайд 17

Результаты численных расчётов

Нормированный отклик детектора на кинетической индуктивности как функция тока

Результаты численных расчётов Нормированный отклик детектора на кинетической индуктивности как функция тока
смещения. Кривая 1 - предел ''фононного термостата'', кривая 2 - предел ''эффективно запертых фононов''

Слайд 18

Глава 3

Проскальзывание фазы в диффузной сверхпроводящей нанопроволоке
Микроскопическое рассмотрение задачи о флуктуационном проскальзывании

Глава 3 Проскальзывание фазы в диффузной сверхпроводящей нанопроволоке Микроскопическое рассмотрение задачи о
фазы параметра порядка в «грязном» одномерном сверхпроводнике

Слайд 19

Длинный одномерный сверхпроводник

a

L>>ξ(T)

Низкая температура

Т~Tc−T

Al: ξ=200 нм

Эффективная размерность образца зависит от температуры!

Длинный одномерный сверхпроводник a L>>ξ(T) Низкая температура Т~Tc−T Al: ξ=200 нм Эффективная

NbN: ξ=4 нм

MoRe: ξ=15 нм

Тонкие плёнки

Критерий
одномерности

ξ в реальных образцах

Слайд 20

Затухание тока в кольцевом 1D сверхпроводнике


J

Ток в кольце квантуется


Затухание тока в кольцевом 1D сверхпроводнике J Ток в кольце квантуется

Слайд 21

Затухание тока в кольцевом 1D сверхпроводнике


J

J

Ток в кольце квантуется

Параметр порядка

Затухание тока в кольцевом 1D сверхпроводнике J J Ток в кольце квантуется
должен претерпеть топологическое превращение

Слайд 22

Проскальзывание фазы

W.A. Little, Phys. Rev. 156, 396 (1967)

Проскальзывание фазы W.A. Little, Phys. Rev. 156, 396 (1967)

Слайд 23

Оценка порога



I

ξ

Оценка порога I ξ

Слайд 24

Оценка порога



I

I

ξ

Оценка порога I I ξ

Слайд 25

Мотивация



2000-e

1970-e

d≈1 мкм

Мотивация 2000-e 1970-e d≈1 мкм

Слайд 26

Первые эксперименты



J.E. Lukens, R.J. Warburton, W.W. Webb, Phys. Rev. Lett.

Первые эксперименты J.E. Lukens, R.J. Warburton, W.W. Webb, Phys. Rev. Lett. 25
25 (1970) 1180

Зависимость R(T) для оловянного вискера. Точки – данные эксперимента, пунктирная кривая – теория ЛАМГ

Слайд 27

Пример похожих современных измерений на нанопроволоке



Зависимости R(T ) для α:InO

Пример похожих современных измерений на нанопроволоке Зависимости R(T ) для α:InO нанопроволоки
нанопроволоки шириной 100 нм и для аналогичным образом изотовленной плёнки шириной 500 мкм.
Вставка: Изображение типичного образца, полученное на сканирующем электроном микроскопе.

A. Johansson, G. Sambandamurthy, D. Shahar, N. Jacobson, R. Tenne, Phys. Rev. Lett. 95 (2005) 116804

Слайд 28

Теоретические работы последних 15 лет, посвящённые флуктуационному проскальзыванию фазы

D.S. Golubev, A.D. Zaikin,

Теоретические работы последних 15 лет, посвящённые флуктуационному проскальзыванию фазы D.S. Golubev, A.D.
Phys. Rev. B 64, 014504 (2001)

D.S. Golubev, A.D. Zaikin, Phys. Rev. B 78, 144502 (2008)

A. Zharov, A. Lopatin, A.E. Koshelev et al., Phys. Rev. Lett. 98, 197005 (2007)

A.D. Zaikin, D.S. Golubev, A. van Otterlo, and G.T. Zimanyi, Phys. Rev. Lett. 78, 1552 (1997)

A.D. Zaikin, D.S. Golubev, A. van Otterlo, and G.T. Zimanyi, Usp. Fiz. Nauk 168, 244 (1998)

Оценка частоты QPS при T=0
Учёт взаимодействия между QPS

Коррекция результата Маккамбера-Гальперина для частоты TAPS

Микроскопическое вычисление δF для 1D чистого случая

Слайд 29

Однако, до настоящего времени не было проведено расчетов зависимости барьера свободной энергии

Однако, до настоящего времени не было проведено расчетов зависимости барьера свободной энергии
от тока и магнитного поля для наиболее важного для практических применений случая диффузной нанопроволоки, находящейся при произвольной по сравнению с Tc температуре.

Слайд 30

Приближение «седловой точки»

T<< δF

Приближение «седловой точки» T

Слайд 31

Решение Ланжера-Амбегаокара

,



J.S. Langer and V. Amegaokar, Phys. Rev. 164, 498

Решение Ланжера-Амбегаокара , J.S. Langer and V. Amegaokar, Phys. Rev. 164, 498
(1967)

1-е уравнение ГЛ

граничные условия

I=0

I≠0

Слайд 32

Результаты Ланжера-Амбегаокара

(в пределе нулевого тока)

J.S. Langer and V. Amegaokar, Phys. Rev. 164,

Результаты Ланжера-Амбегаокара (в пределе нулевого тока) J.S. Langer and V. Amegaokar, Phys.
498 (1967)

Задача о проскальзывании фазы рассмотрена в рамках теории Гинзбурга-Ландау

Слайд 33

Уравнение Узаделя для проскальзывания фазы



G и F – мацубаровские функции

Уравнение Узаделя для проскальзывания фазы G и F – мацубаровские функции Грина;
Грина; G2+|F|2=1
Δ – координатно-зависимый комплексный параметр порядка
ω=(2n+1)πT – мацубаровская частота
(T – температура, n – неотрицательное целое число)
ps∞ – сверхтекучий импульс на бесконечности
D – коэффициент диффузии
Tc – критическая температура

Граничные условия

ℓ <

Слайд 34

Вычисление порога свободной энергии

.

Узаделевское выражение для свободной энегргии

Вычисление порога свободной энергии . Узаделевское выражение для свободной энегргии

Слайд 35

Вычисление порога свободной энергии

.

Узаделевское выражение для свободной энергии

Вычисление порога свободной энергии . Узаделевское выражение для свободной энергии

Слайд 36

Зависимость порога свободной энергии от тока

Зависимость порога свободной энергии от тока δF(Js)

Зависимость порога свободной энергии от тока Зависимость порога свободной энергии от тока
при H=0. Сплошные кривые - численный расчёт, пунктир с точками - теория Гинзбурга-Ландау. Свободная энергия нормирована на характерный масштаб энергии конденсации N0Δ3/2D1/2

Слайд 37

Зависимость порога свободной энергии от магнитного поля

Зависимость порога свободной энергии от магнитного

Зависимость порога свободной энергии от магнитного поля Зависимость порога свободной энергии от
поля δF(B) при Js=0. Сплошные кривые - численный расчёт, пунктир с точками - теория Гинзбурга-Ландау. Свободная энергия нормирована на характерный масштаб энергии конденсации N0Δ3/2D1/2

Слайд 38

Аналитическое решение вблизи критического поля

При Г→Гс удаётся свести уравнение Узаделя к замкнутому

Аналитическое решение вблизи критического поля При Г→Гс удаётся свести уравнение Узаделя к
уравнению для параметра порядка, аналогичному уравнению теории Гинзбурга-Ландау

Критическое магнитное поле (Т<

Для сравнения, ГЛ

(бестоковый случай)

Параметр Γ описывает влияние магнитного поля и определяется как

Слайд 39

Аналитическое решение вблизи критического поля

,

Решение для «седловой точки»

.

,

Порог свободной энергии

Аналитическое решение вблизи критического поля , Решение для «седловой точки» . , Порог свободной энергии

Слайд 40

Глава 4

Моделирование формы отклика SSPD

Оптимизация сверхпроводникового однофотонного детектора (SSPD)

Исследование возможности применения SSPD,

Глава 4 Моделирование формы отклика SSPD Оптимизация сверхпроводникового однофотонного детектора (SSPD) Исследование
разрешающего число фотонов, в телекоммуникационных линиях

Слайд 41

Сверхпроводниковый однофотонный детектор

Полоска из NbN
w=100 нм
d=4 нм

T=2..4 К
I=0.7..0.95 Ic

Сверхпроводниковый однофотонный детектор Полоска из NbN w=100 нм d=4 нм T=2..4 К I=0.7..0.95 Ic

Слайд 42

Механизм работы

Поглощение фотона, размножение неравновесных квазичастиц

Подавление параметра порядка, перераспределение сверхтока, превышение критической

Механизм работы Поглощение фотона, размножение неравновесных квазичастиц Подавление параметра порядка, перераспределение сверхтока,
плотности тока

Джоулев нагрев, эволюция резистивного участка – регистрация импульса напряжения

Слайд 43

Механизм работы

Поглощение фотона, размножение неравновесных квазичастиц

Подавление параметра порядка, перераспределение сверхтока, превышение критической

Механизм работы Поглощение фотона, размножение неравновесных квазичастиц Подавление параметра порядка, перераспределение сверхтока,
плотности тока

Джоулев нагрев, эволюция резистивного участка – регистрация импульса напряжения

Слайд 44

Влияние кинетической индуктивности на длительность оклика

Длительность импульса определяется в основном временем восстановления

Влияние кинетической индуктивности на длительность оклика Длительность импульса определяется в основном временем
тока

совпадает с извлеченным из τfall

Слайд 45

Электротермическая модель

U0

RL

Lk

U

I = Is+In

Te, E

x

Электротермическая модель U0 RL Lk U I = Is+In Te, E x

Слайд 46

Константы

Температура термостата Т0=4.2 К
Критическая температура Тс=10 К
Эффективная длина когерентности

Константы Температура термостата Т0=4.2 К Критическая температура Тс=10 К Эффективная длина когерентности
ξ=7.5 нм
Постоянная Зоммерфельда γ=240Дж/(K2м3)
Толщина плёнки 3 нм
Ширина полоски 100 нм
Сопротивление плёнки на квадрат в нормальном состоянии Rn=700 Ом
Рабочий ток I=20 мкА
Крит. ток при 4.2 К Ic=25 мкА

Слайд 47

Зависимость температуры электронной подсистемы от времени и координаты

L=500 nH
R0=108 Ohm
Ic=25 mA
I=20 mA

Зависимость

Зависимость температуры электронной подсистемы от времени и координаты L=500 nH R0=108 Ohm
электрического поля и параметра порядка от времени и координаты

x

t

T

x

t

Результаты моделирования

Слайд 48

Зависимость температуры электронной подсистемы от времени и координаты

Зависимость электрического поля и параметра

Зависимость температуры электронной подсистемы от времени и координаты Зависимость электрического поля и
порядка от времени и координаты

L=5 nH
R0=108 Ohm
Ic=25 mA
I=20 mA

x

t

T

x

t

Результаты моделирования

Слайд 49

Измерения на образцах с малой кинетической индуктивностью

τfall~Lk~N−2

τR~100 пс

Измерения на образцах с малой кинетической индуктивностью τfall~Lk~N−2 τR~100 пс

Слайд 50

Сверхпроводниковый однофотонный детектор, разрешающий число фотонов, как приёмник в телекоммуникационной линии

Доля ошибочных

Сверхпроводниковый однофотонный детектор, разрешающий число фотонов, как приёмник в телекоммуникационной линии Доля
битов

Nabs=QE×N

V~Nabs

0: QE×n

1: QE×N

BER=BER1→0+ BER0→1

BER= BER(N,n,Nd)

QE=0.1, BER=10-11, 10 log(n/N)=-18

N=250

Слайд 51

Положения, выносимые на защиту по результатам гл.2

Поглощение энергии высокочастотного электромагнитного поля

Положения, выносимые на защиту по результатам гл.2 Поглощение энергии высокочастотного электромагнитного поля
в диффузном сверхпроводнике может быть полностью описано в рамках метода Келдыша-Узаделя. Получающийся при этом интеграл электрон-фотонных столкновений является обобщением результата теории Элиашберга на случай произвольного вида когерентных факторов.
Максимальный отклик сверхпроводникового детектора на кинетической индуктивности на основе узкой и длинной сверхпроводящей полоски достигается при величине тока смещения, сравнимого с током распаривания. Положение максимума определяется конкуренцией между ростом тока и кинетической индуктивности полоски и уменьшением относительной величины отклика кинетической индуктивности из-за сокращения времени рекомбинации квазичастиц.

Слайд 52

Положения, выносимые на защиту по результатам гл.3

Зависимости порога свободной энергии для

Положения, выносимые на защиту по результатам гл.3 Зависимости порога свободной энергии для
процесса проскальзывания фазы в одномерном диффузном сверхпроводнике от магнитного поля и тока во всём диапазоне температур качественно сходны с получающимися в пределе высоких температур в рамках теории Гинзбурга-Ландау; количественное отличие составляет приблизительно два раза в пределе низких температур, малых токов и магнитных полей, и уменьшается с ростом этих параметров.
В окрестности критического магнитного поля состояние одномерной диффузной нанопроволоки может быть описано замкнутым уравнением для параметра порядка типа уравнения Гинзбурга-Ландау, следующим из уравнений микроскопической теории как их предельный случай.

Слайд 53

Положения, выносимые на защиту по результатам гл.4

Уменьшение кинетической индуктивности сверхпроводникового однофотонного

Положения, выносимые на защиту по результатам гл.4 Уменьшение кинетической индуктивности сверхпроводникового однофотонного
детектора до величин менее 5 нГн позволяет достичь длительностей отклика, обусловленных собственной динамикой образованного после поглощения фотона резистивного состояния.

Слайд 54

Спасибо за внимание!

Спасибо за внимание!

Слайд 56

Поиски QPS

Superconducting transitions of ‘‘long’’ MoGe nanowires on top of an insulating

Поиски QPS Superconducting transitions of ‘‘long’’ MoGe nanowires on top of an
carbon nanotube used as the substrate. The samples’ normal state resistances and lengths are
1: 14.8 kΩ, 135 nm; 2: 10.7 kΩ, 135 nm; 3: 47 kΩ, 745 nm; 4: 17.3 kΩ, 310 nm;
5: 32 kΩ, 730 nm; 6: 40 kΩ, 1050 nm;
7: 10 kΩ, 310 nm; 8: 4.5 kΩ, 165 nm. Symbols stand for calculations with the single numerical coefficient A = 0.7. The critical temperature TC and the dirty-limit coherence length ξ(0) used as fitting parameters for samples 3–8 are
3: 5.0 K, 8 nm; 4: 6.4 K, 8.5 nm; 5: 4.6 K, 8.9 nm; 6: 4.8 K, 8.9 nm; 7: 5.6 K, 11.9 nm; 8: 4.8 K, 8.5 nm

A. Bezryadin, C.N. Lau, M. Tinkham, Nature 404 (2000) 971

Слайд 57

Удобное калибровочное преобразование



ψ

x



Удобное калибровочное преобразование ψ x

Слайд 58

Удобное калибровочное преобразование



ψ

ψ

x

x



Удобное калибровочное преобразование ψ ψ x x
Имя файла: Проскальзывание-фазы,-поглощение-электромагнитного-излучения-и-формирование-отклика-в-детекторах-на-основе-узких-полосок-сверхп.pptx
Количество просмотров: 158
Количество скачиваний: 0