ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПРОЦЕССОВ И ЯВЛЕНИЙ, ЛЕЖАЩИЕ В ОСНОВЕ методов получения информации

Рис. 51-2. Результаты сравнения рентгенограмм:
таблица сравнения межплоскостных расстояний

Рис. 52. Сравнение штрихдиаграммы образца со штрихдиагаммой
одного из стандартов: 21-1272, анатаз

Рис. 53. Расчет концентраций компонентов и сравнение штрихдиаграмм
образца и модели: 21-1272, анатаз; 1-1292, рутил.

Элементарные ячейки
Проекции на плоскость bc
Рис. 54 Полиморфные модификации оксида титана

Рис.55. КФА по дифракционной картине нанопорошкаTiO2

МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, В ОСНОВЕ КОТОРЫХ ЛЕЖИТ ЯВЛЕНИЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОГЛОЩЕНИЯ
I = Ioexp(−μmρt) – закон ослабления рентгеновских лучей в веществе
μm – массовый коэффициент ослабления, равный сумме коэффициентов истинного поглощения (τm) и рассеяния (σm): μm = τm + σm.
σm~0.2 см2/г
ρ- плотность материала, t – толщина
μm (λ, Z)
Рис. 1. К расчету коэффициента ослабления

Рис.2. Зависимость коэффициента истинного поглощения платины (Pt) от длины волны падающего излучения
Рис. 3.
Зависимость атомного коэффициента поглощения от атомного номера элемента Z для длины волны λ =1 Å

Рис. 4. Схема возникновения первичного и вторичного (флуоресцентного) рентгеновского характеристического излучения

Рис.5 Энергетические уровни атома.
Разрешенные переходы электронов на К - уровень.

Рис. 6. Возникновение
линий K-серии:
а - α1: hνα1 =E2p2- E1s;
б - α2: hνα2 =E2p1- E1s;
в - β: hνβ =E3p2- E1s

; Rc=3.29⋅10-15Гц
Рис. 7. Зависимость корня из частоты
вторичного излучения от атомного номера элемента
Закон Мозли 1913 г.
Генри Гвин-Джефрис Мозли (1887-1915 ), aнглийский физик,
Источник: © Calend.ru
http://www.calend.ru/person/3467/

Рис. 8. Схема регистрации углового распределения интенсивности
а – без фильтра; б - с фильтром перед счетчиком
Определение коэффициента поглощения фона, создаваемого на рентгенограмме флуоресцентным излучением образца.

Рис. 9. Угловое распределение интенсивности а – без фильтра; б - с фильтром перед счетчиком

Контрастность рентгенограммы:
K=Iлинии /Iфона
Закон ослабления для линии:
Закон ослабления для фона:

Методы рентгеновского анализа
Рентгенгофлуоресцентный анализ
Волнодисперсионный
Энергодисперсионный
Полного внешнего отражения
Со скользящим углом отбора
С поляризованным пучком
На сорбционных фидьтрах
С различными видами возбуждения: синхротрон, частицы, радиоизотопы, трубки с капилярной оптикой
Рентгеновский эмиссионный анализ
Рентгеновский микроанализ
Рентгеновский абсорбционный анализ
Интегральный
Спектроскопия краев поглощения
Рентгеновская дефектоскопия
Фотоэлектронная спектроскопия
Оже-электронная спектроскопия
Рентгенолюминисцентный анализ
Рентгенодифракционный анализ
Рентгеновская рефлектометрия
Рентгеновская рефрактометрия

Рис.10. Результаты энергодисперсионного флуоресцентного анализа

EXAFS (ТСРП) – АНАЛИЗ ТОНКОЙ СТРУКТУРЫ РЕНТГЕНОВСКОГО ПОГЛОЩЕНИЯ
Рис. 11.Схематическое изображение появления спектра EXAFS

Рис. 12. Спектры EXAFS сплава железо-никель (Fe-Ni), имеющего ГЦК решетку и содержащего 45% никеля

Рис. 13. а) Экспериментальный спектр EXAFS μ (Е) вблизи K-края поглощения железа.
б) Распределение электронной плотности
.

Рис. 14. Схема EXAFS-экспериментальной установки, используемой в Стэнфордской лаборатории синхротронного излучения