Развитие отечественного производства кремниевых СБИС

Содержание

Слайд 2

Мировой рынок микроэлектроники

Восстановление рынка микроэлектроники после падения, вызванного кризисом, займет до

Мировой рынок микроэлектроники Восстановление рынка микроэлектроники после падения, вызванного кризисом, займет до
трех лет

Источник: The Annual Semiconductor Report, Future Horizons, 2009

Слайд 3

Тенденция развития технологических процессов изготовления СБИС в мире

Тенденция развития технологических процессов изготовления СБИС в мире

Слайд 4

Микрон – сегодня Технологический уровень (2009)

Серийное производство микросхем
Диаметр пластин (мм) – 150 200
Проектные

Микрон – сегодня Технологический уровень (2009) Серийное производство микросхем Диаметр пластин (мм)
нормы (мкм) 2,0 – 0,8 0,18
Номенклатура технологий Биполярная, КМОП КМОП+EEPROM
для смарт-карт и РЧИ
Исследования и разработки
Диаметр пластин – 200 мм
Разрабатываемые технологии:
180 нм:
КМОП , КМОП + EEPROM, аналого-цифровые приложения
БиКМОП (SiGe) для телекоммуникаций и СВЧ техники,
КМОП КНИ и КМОП для радиационно-стойкой ЭКБ
90 нм:
Проект по запуску производства с участием ГК «Роснанотех»

Слайд 5

Технологический путь ОАО «НИИМЭ и Микрон»: сокращение разрыва с мировым уровнем

Поэтапное сокращение

Технологический путь ОАО «НИИМЭ и Микрон»: сокращение разрыва с мировым уровнем Поэтапное
отставания от мирового уровня, позволит российской микроэлектронике выйти в глобальные игроки и закрепить за Россией роль высокотехнологичной державы в мировом разделении труда

Слайд 6

Семейство технологий с проектными нормами 180 нм

Стартовая освоения

Семейство технологий с проектными нормами 180 нм Стартовая освоения

Слайд 7

Основные проектные нормы технологического процесса КМОП СБИС 180 нм

Основные проектные нормы технологического процесса КМОП СБИС 180 нм

Слайд 8

Электрические параметры элементной базы технологического процесса КМОП СБИС 180 нм

Электрические параметры элементной базы технологического процесса КМОП СБИС 180 нм

Слайд 9

Низковольтные (НВ) транзисторы

НВ n-канальный транзистор

НВ p-канальный транзистор

Низковольтные (НВ) транзисторы НВ n-канальный транзистор НВ p-канальный транзистор

Слайд 10

Высоковольтные (ВВ) транзисторы

ВВ n-канальный транзистор

ВВ p-канальный транзистор

ВВ n-канальный транзистор без кармана

Высоковольтные (ВВ) транзисторы ВВ n-канальный транзистор ВВ p-канальный транзистор ВВ n-канальный транзистор без кармана

Слайд 11

Развитие технологий на Фаб-200

Разработка радиационно-стойкой технологии КМОП БИС на структурах «Кремний на

Развитие технологий на Фаб-200 Разработка радиационно-стойкой технологии КМОП БИС на структурах «Кремний
изоляторе» с проектными нормами 180 нм для космических аппаратов, ВВСТ

(Передовой зарубежный уровень р.с. СБИС 250 - 150 нм).

Участники разработки:
- ОАО «НИИМЭ и Микрон» - головная организация
- ГУ НПК «Технологический центр» МИЭТ
- Институт физики полупроводников СО РАН
- ЭНПО СПЭЛС
- 22 ЦНИИИ МО

Слайд 12

Подписано соглашение с фирмой IHP (Германия) о поэтапном лицензировании технологии

Технология СВЧ БИС БиКМОП

Подписано соглашение с фирмой IHP (Германия) о поэтапном лицензировании технологии Технология СВЧ
SiGe

для изготовления ГБТ используется одна дополнительная маска;
в рамках процесса возможно изготовление трех типов ГБТ с различными частотными характеристиками (ГГц):
fт/fmax (Vce (В)): 30/70 (7); 50/95 (4,2) 80/95 (2,4)

Слайд 13

Переход из микро- в наноэлектронику

Нанотехнологии - совокупность приемов и методов, применяемых при

Переход из микро- в наноэлектронику Нанотехнологии - совокупность приемов и методов, применяемых
изучении, проектировании, производстве и использовании наноструктур, устройств и систем, включающих целенаправленный контроль и модификацию формы, размера, взаимодействия и интеграции составляющих их наномасштабных элементов (около 1-100 нм), для получения объектов с новыми химическими, физическими, биологическими свойствами.

При изготовлении СБИС по технологии 90 нм реализуется элементная база с минимальными топологическими размерами 90 нм и физическая структура с минимальной толщиной 1,4 нм, что позволяет изготавливать сложные электронные системы содержащие сотни миллионов транзисторов.

Слайд 14

Семейство технологий с проектными нормами 90 нм

Семейство технологий с проектными нормами 90 нм

Слайд 15

Основные проектные нормы технологического процесса КМОП СБИС 90 нм

Основные проектные нормы технологического процесса КМОП СБИС 90 нм

Слайд 16

Электрические параметры элементной базы технологического процесса КМОП СБИС 90 нм

Электрические параметры элементной базы технологического процесса КМОП СБИС 90 нм

Слайд 17

Контроль технологического процесса изготовления СБИС с проектными нормами 180 – 90 нм

Контроль технологического процесса изготовления СБИС с проектными нормами 180 – 90 нм

Слайд 18

Материалы и комплектующие для изготовления СБИС с проектными нормами 180 – 90 нм

Примечание:

Материалы и комплектующие для изготовления СБИС с проектными нормами 180 – 90
N – nine (девять) – означает количество девяток после запятой, например, N40 – это 0,9999; N45 – это 0,99995

Слайд 19

Основные проблемы развития отечественного производства кремниевых СБИС

Для коммерческих СБИС (массового производства):
Отсутствие отечественного

Основные проблемы развития отечественного производства кремниевых СБИС Для коммерческих СБИС (массового производства):
рынка СБИС
Для СБИС ВВСТ:
Огромное количество типономиналов импортной ЭКБ, примененной в электронных системах;
Проблемы редизайна СБИС отечественной разработки (разные технологии и зарубежные ФАБы, привязка к IP, необходимость финансирования для редизайна)
Отсутствие жесткой координации со стороны государственных органов по ограничению перечня типономиналов для ЭКБ спецприменения
Имя файла: Развитие-отечественного-производства-кремниевых-СБИС.pptx
Количество просмотров: 211
Количество скачиваний: 1