Управление потоком поверхностных плазмонполяритонов с помощью внешних полей

Содержание

Слайд 2

Введение

Цель работы: компьютерное моделирование наноразмерных плазмонных устройств, принцип действия которых основан на

Введение Цель работы: компьютерное моделирование наноразмерных плазмонных устройств, принцип действия которых основан
управлении потоком поверхностных плазмон-поляритонов

Поверхностные плазмон-поляритоны (ППП) генерируются в результате взаимодействия фотонов, фононов и плазмонов при распространении электромагнитной волны вдоль границы раздела диэлектрической среды и металла

Слайд 3

Граничные условия для ППП для ТМ-моды

Длина волны и постоянная распространения ППП:

– волновой

Граничные условия для ППП для ТМ-моды Длина волны и постоянная распространения ППП:
вектор ППП
– коэффициент затухания
в среде 1
– коэффициент затухания
в среде 2

Слайд 4

Действительная часть должна быть отрицательной
по модулю должна быть больше чем

Действительная часть должна быть отрицательной по модулю должна быть больше чем Условия

Условия возбуждения ППП

- диэлектрическая проницаемость металла

- диэлектрическая проницаемость диэлектрика

Слайд 5

Распределение потока плотности энергии в системе металл-диэлектрик

Плазмонная волна экспоненциально затухает в металле

Распределение потока плотности энергии в системе металл-диэлектрик Плазмонная волна экспоненциально затухает в
и в диэлектрике вдоль нормальной оси к границе раздела

Постоянная распространения ППП на поверхности полоскового волновода

Слайд 6

 

(а)

(б)

Плазмонный полевой транзистор, действующий по принципу полупроводникового полевого транзистора со встроенным каналом

(а) (б) Плазмонный полевой транзистор, действующий по принципу полупроводникового полевого транзистора со встроенным каналом SPP SPP

SPP

SPP

Слайд 7

 

Модель плазмонного полевого транзистора

Модель плазмонного полевого транзистора

Слайд 8

Энергетические уровни в системе Au/SiO2/Au

EF – уровень Ферми Au (5.1 эВ)
EC –

Энергетические уровни в системе Au/SiO2/Au EF – уровень Ферми Au (5.1 эВ)
уровень ферми SiO2 (~8 эВ).
G – gate (затвор)
n-p – nano-plate (нано-пластинка)
1 – потенциальная кривая электронов с n-p
2 – потенциальная кривая электронов с G
3 – потенциальный барьер при суперпозиции потенциалов 1 и 2

Слайд 9

Энергетические уровни в системе Au/SiO2/Au с включённым полем на затворе

EF – уровень

Энергетические уровни в системе Au/SiO2/Au с включённым полем на затворе EF –
Ферми Au (5.1 эВ)
EC – уровень Ферми SiO2 (~8 эВ).
1 – потенциальная кривая электронов с n-p.
2 – потенциальная кривая электронов с G.
3 – потенциал образованный при включении поля на G.
4 – потенциальный барьер при суперпозиции потенциалов 1, 2 и 3.

Слайд 10

Влияние управляющего поля на вектор Пойнтинга

Влияние управляющего поля на вектор Пойнтинга

Слайд 11

Аналитический анализ и компьютерное моделирование позволяют сделать следующие выводы:
ППП на границе раздела

Аналитический анализ и компьютерное моделирование позволяют сделать следующие выводы: ППП на границе
металл-диэлектрик могут существовать только в области частот, в которой диэлектрическая проницаемость одной из сред отрицательна.
Плазмонная волна является сильно локализованной вблизи границы раздела сред. Пространственная локализация ППП является основой для применений в наноразмерных структурах.
Диэлектрическую проницаемость металло-диэлектрической наноструктуры можно локально менять изменяя амплитуду ППП-сигнала, подаваемого на управляющий электрод ППТ. При этом можно модулировать плотность потока энергии ППП, распространяющегося по поверхности плазмонного полоскового волновода.
Способ управления ППП-сигналами с помощью внешних полей является весьма эффективным для применения в наноплазмонных устройствах .
На основе управления ППП-сигналами может быть реализован ППТ с рабочей частотой порядка десятков терагерц. ППТ может быть применен в интегральных микросхемах для вычислительных устройств, работающих на оптических частотах.

Выводы