Микро и нано электроника. Просвечивающая электронная микроскопия. Автоэлектронная и автоионная микроскопия. Зондовая микроскопия

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

8
1
2
3
4
5
6
7

В электронных микроскопах используются:
1 - Лучи света
2 - Пучки электронов
Вопрос № 1

Какая микроскопия основывается на явлениях эмиссии электронов с поверхности металла под воздействием сильных электрических полей?
1 - Ионно-полевая
2- Электронно-полевая
Вопрос № 2

Детектирование чего лежит в основе сканирующего оптического микроскопа ближнего поля?
1 - Электромагнитное излучение
2 – Ток вторичных и отраженных электронов
Вопрос № 3

При сканирующей электронной микроскопии…
1 – исследуются только тонкие пленки
2 – толщина образца не имеет значения
Вопрос № 4

У сканирующего туннельного микроскопа в качестве зонда выступает…
1 – металлическая игла
2 - образец
Вопрос № 5

Сканирующая туннельная микроскопия может исследовать…
1 – проводящие образцы
2 – любые образцы
Вопрос № 6

Атомно-силовая микроскопия может исследовать…
Только проводящие образцы
Только непроводящие образцы
Любые образцы
Вопрос № 7
Только металлы

При сканирующей оптической микроскопии ближнего поля зондом выступает…
Тонкая металлическая игла
Оптоволокно
Образец
Оптический волновод
Вопрос № 8

Ответ правильный

Ответ неправильный