Презентации, доклады, проекты по физике

Демонстрация световых явлений на основе оптических систем
Демонстрация световых явлений на основе оптических систем
Содержание Введение…………………………………………………………………………………….…….3 Глава 1. Понятие световых явлений и их классификация…….…………………4 1.1. Волновая оптика………………………………………….……………………………….4 1.1.1. История и теоретические основы понятия световых явлений…………………………………………………………………………………………….4 1.1.2 . Основные  положения корпускулярной теории Ньютон…………………………………………………………………………………………..…6 1.1.3. Основные  положения корпускулярной теории Гюйгенса…………………………………………………………………………………….……..7 Дисперсия света………………………………………………………..……………….8 Поляризация света………………………………………………………….………...11 Интерференция света………………………………………………………………..14 Дифракция света………………………………………………………………..…….16 Глава. 2. Методические рекомендации к демонстрационным лабораторным работам……………………………………………………………………..25 2.1. Дисперсия……………………………………………………………………..…………..26 2.2. Поляризация……………….……………………………………………………………..30 2.3. Интерференция………………………….……………………………………………….33 2.4. Дифракция……………………………………..…………………………………………37 Заключение……………………………………………………………………………………..37 Список использованной литературы………………………………………….……….38 Цель исследования: изучить устройство и принцип работы лабораторной установки «Демонстрация световых явлений на основе оптических систем». Объект исследования: лабораторная установка «Демонстрация световых явлений на основе оптических систем». Предмет исследования: устройство лабораторной установки «Демонстрация световых явлений на основе оптических систем».
Продолжить чтение
Первые полупроводниковые компоненты
Первые полупроводниковые компоненты
Исследования проводимости различных материалов начались непосредственно в XIX в. сразу после открытия гальванического тока. Первоначально их делили на две группы: проводники электрического тока и диэлектрики, или изоляторы. К первым относятся металлы, газы и растворы солей. Их способность проводить ток объясняется тем, что их электроны сравнительно легко отрываются от атома. Особый интерес представляли те из них, которые обладали низким электрическим сопротивлением и могли применяться для передачи тока (медь, алюминий, серебро). К изоляторам относятся такие вещества, как фарфор, керамика, стекло, резина. Их электроны прочно связаны с атомами. Позже были открыты материалы, чьи свойства не подходили полностью ни под одну из вышеназванных категорий. Эти вещества получили название полупроводников, хотя они вполне заслуживали и названия «полуизоляторы». Они проводят ток несколько лучше, чем изоляторы, и значительно хуже проводников. К полупроводникам относится большая группа веществ, среди которых графит, кремний, бор, цезий, рубидий, галлий, кадмий и различные химические соединения - окислы и сульфиды, большинство минералов и некоторые сплавы металлов. Особенно велико значение германия, а также кремния, благодаря которым произошла поистине техническая революция в электротехнике.Изучение свойств полупроводников начались, когда возникла потребность в новых источниках электричества. Это заставило исследователей обратиться к изучению явлений, связанных с образованием так называемой контактной разности потенциалов. Было замечено, в частности, что многие материалы, не являющиеся проводниками тока, электризуются при соприкосновении между собой. Первые опыты в этом направлении проводились в XIX в. Г. Дэви и A.G. Беккерелем.
Продолжить чтение
Методика контроля усилителя 21901-1602060-01 на калибре ПК-009. Педаль тормоза
Методика контроля усилителя 21901-1602060-01 на калибре ПК-009. Педаль тормоза
1. Деталь установить на базовую опору и пальцы (рис.1). (Проверка размеров 63±0,3; 80±0,3, а так же расположения отверстий ø 9,2) базовая опора базовые, контрольные пальцы рис.1 2. Зафиксировать прижимами (рис.2) рис.2 прижимы откидная часть 3. Откидную часть стойки установить в положение для контроля (рис.3). Зафиксировать зажимным винтом. Щупом ПР-НЕ проверить зазор между нижней поверхностью откидной части и кронштейном. (контроль размера 114,2±0,5) . 4. Опустить контрольную оправку (рис.4) до касания её торца с деталью (контроль расположения отверстия: размер 105±0,5). Зафиксировать оправку винтом. Щупом S 0.2 (набор щупов) проверить зазор между торцом оправки и деталью. Щуп НЕ должен проходить. (контроль угла 5°±30’) рис.3 рис.4 зажимной винт Щуп ПР-НЕ контрольная оправка винт зазор Набор щупов ГОСТ 882-75
Продолжить чтение