Структурные методы анализа

Электро́нный микроско́п
Электро́нный микроско́п (ЭМ) — прибор, позволяющий получать изображение объектов с максимальным увеличением до 106 раз, благодаря использованию, в отличие от оптического микроскопа, вместо светового потока, пучка электронов с энергиями 200 эВ — 400 кэВ и более (например, просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения с ускоряющим напряжением 1 МВ).

Применяется
Полупроводники и хранение данных
Редактирование схем
Метрология 3D
Анализ дефектов
Анализ неисправностей

Биология и биологические науки
Криобиология
Локализация белков
Электронная томография
Клеточная томография
Крио-электронная микроскопия
Токсикология
Биологическое производство и мониторинг загрузки вирусов
Анализ частиц
Фармацевтический контроль качества
3D изображения тканей
Вирусология
Стеклование

Промышленность
Создание изображений высокого разрешения
Снятие микрохарактеристик 2D и 3D
Макрообразцы для нанометрической метрологии
Обнаружение и снятие параметров частиц
Электронная литография
Динамические эксперименты с материалами
Подготовка образцов
Судебная экспертиза
Добыча и анализ полезных ископаемых
Химия/Нефтехимия
Фрактография
Микротехнология