Композиционные материалы на наноуровне

Основные методы
анализа состояния поверхностного слоя:
Оптическая микроскопия
Конфокальная оптическая микроскопия
Растровая электронная микроскопия
Сканирующая туннельная микроскопия
Атомно-силовая микроскопия
Существующие методы изучения КМ

Растровая электронная микроскопия
3

4
Растровая электронная микроскопия

5
Растровая электронная микроскопия

6
Растровая электронная микроскопия

7
Растровая электронная микроскопия

8
Растровая электронная микроскопия

9
Растровая электронная микроскопия

10
Растровая электронная микроскопия

11
Растровая электронная микроскопия

Атомно-силовая микроскопия
12
Схема регистрации изгибов кантилевера
Устройство пьезосканера: 1) керамическая пьезотрубка; 2) каретка; 3) предметный столик
Трубчатый пьезосканер
Полуконтактный метод сканирования

13
Атомно-силовая микроскопия
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм
Стеклянное волокно Ortex

14
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм
Атомно-силовая микроскопия
Стеклянное волокно РТ300-100

15
Атомно-силовая микроскопия

16
Атомно-силовая микроскопия
Органическое волокно СВМ-7,5
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм

17
Атомно-силовая микроскопия
Область сканирования 10х10 мкм
Область сканирования 5х5 мкм
Органическое волокно Русар-5

Сферопластики
18

Фуллерены
19

Углеродные нанотрубки
20