Физическая оптика: интерференция и дифракция. Лекция 2

Содержание

Слайд 2

Физическая оптика

Для описания разрешающей способности прибора геометрической оптики недостаточно. В качестве следующей

Физическая оптика Для описания разрешающей способности прибора геометрической оптики недостаточно. В качестве
аппроксимации используется физическая оптика.
Физическая оптика учитывает волновые свойства света (длина волны света конечна), и, за счет этого, позволяет точнее описать соотношение между объектом и его увеличенным изображением.
Кроме того, физическая оптика позволяет математически рассчитать системы линз, создающих наилучшее изображение (объективы, свободные от аберраций).

Слайд 3

Допущения физической оптики

Длина волны света конечна.
Распространение света есть распространение электромагнитных колебаний

Допущения физической оптики Длина волны света конечна. Распространение света есть распространение электромагнитных
в виде волновых фронтов.
Квантовые эффекты отсутствуют.
Следствия:
1. Распространение света в однородной среде не прямолинейно (дифракция).
2. Волновые фронты взаимодействуют друг с другом (интерференция).

Слайд 4

Интерференция волн

Интерференция волновых фронтов от двух одинаковых источников приводит к образованию псевдо-структур

Интерференция волн Интерференция волновых фронтов от двух одинаковых источников приводит к образованию
- пучностей и впадин («стоячие волны»).
Расположение пучностей и впадин определяется расстоянием до источников волн.
Примеры:
интерференция в тонких пленках
Кольца Ньютона
Опыт Юнга

Слайд 5

Когерентный свет

Световые волны (одинаковой длины волны), которые приходят в данную точку с

Когерентный свет Световые волны (одинаковой длины волны), которые приходят в данную точку
постоянной (не изменяющейся со временем) разностью фаз, называются когерентными. Наилучшим источником когерентных волн является лазер. Они также могут быть получены от других источников с помощью специальных приемов расщепления исходного волнового фронта.
Когерентные волны дают интерференционную картину, которая с течением времени сохраняется неизменной: ее можно наблюдать визуально, фотографировать, измерять расстояние между местами с максимумами или минимумами света и т.д.
Некогерентные лучи не дают стабильной (устойчивой, постоянной) интерференционной картины. Непрерывное изменение фаз складываемых колебаний в каждой точке пространства создает быстро меняющуюся картину, которая представляется практически однородной.

Слайд 6

Источники света и интерференция

Лазерный пучок высококогерентен (длина когерентного цуга составляет от 20

Источники света и интерференция Лазерный пучок высококогерентен (длина когерентного цуга составляет от
см до 100 км), и интерференционная картина видна при практически любом рассеивании пучка лазерного света.
Нагретое тело – квазикогерентный источник, цуги когерентных волн имеют продолжительность τ≅10-8 секунды (газоразрядные лампы). Для солнечного света τ≅10-15 секунды.
Таким образом, интерференция при освещении объекта лампой накаливания не видна. Она может быть видна только в том случае, если разность оптического хода лучей составляет около 10-14 с (например, кольца Ньютона, интерференция в тонких пленках).
Поэтому для наблюдения интерференции волновых фронтов от обычного источника света используют расщепление светового пучка и последующее схождение двух фронтов с небольшой разностью оптического хода (порядка нескольких длин волн).

Слайд 7

Интерференция в тонких пленках

Интерференция в тонких пленках

Слайд 8

Кольца Ньютона – интерференция в тонком слое

Картина колец Ньютона постоянна во времени

Кольца Ньютона – интерференция в тонком слое Картина колец Ньютона постоянна во
из-за минимального сдвига волновых фронтов.

Слайд 9

Опыт Юнга – создание интерференционной картины

Свет, последовательно проходящий через одну, а

Опыт Юнга – создание интерференционной картины Свет, последовательно проходящий через одну, а
затем две щели (S; S1 и S2) cоздает на экране сложную картину чередующихся полос различной яркости.

Слайд 10

Сравнение распространения волн и частиц

Огибание световой волной границ непрозрачных тел с интерференционным

Сравнение распространения волн и частиц Огибание световой волной границ непрозрачных тел с
перераспределением энергии по различным направлениям называется дифракцией света.

Слайд 11

Дифракция Фраунгофера на щели

Изображение светящейся тонкой щели превращается в центральную полосу, окруженную

Дифракция Фраунгофера на щели Изображение светящейся тонкой щели превращается в центральную полосу,
рядом параллельных полос убывающей яркости.

Слайд 12

Дифракция Фраунгофера на малом круглом отверстии

Изображение светящейся точки превращается в центральное пятно,

Дифракция Фраунгофера на малом круглом отверстии Изображение светящейся точки превращается в центральное
окруженное рядом концентрических колец убывающей яркости.

Слайд 13

Диск Эри – изображение точечного объекта идеальной линзой

Диск Эри – изображение точечного объекта идеальной линзой

Слайд 14

Дифракция света – распределение интенсивности

В диске Эри есть центральный (нулевой) максимум и

Дифракция света – распределение интенсивности В диске Эри есть центральный (нулевой) максимум
локальные максимумы больших порядков, которые имеют значительно меньшую интенсивность (I1 ~ 2% от I0). Между максимумами интенсивность равна нулю.

I1

Слайд 15

Полное распределение интенсивности в диске Эри описывается формулой:
где I(θ) – интенсивность,
k=2π/λ есть волновое

Полное распределение интенсивности в диске Эри описывается формулой: где I(θ) – интенсивность,
число,  a радиус апертуры, и θ угол наблюдения,
J1 – Бесселева функция первого рода.
Функция принимает периодически нулевые значения на расстояниях x= k a sin (θ) ≈ 3,83; 7,02$ 10,17 и т.д.
Отсюда можно вычислить радиус первого минимума (где функция обращается в ноль):
sin (θ) ≈ 3,83/ka = 1,22 λ/d

Слайд 16

Поскольку величина первого максимума в диске Эри составляет менее 2% от нулевого,

Поскольку величина первого максимума в диске Эри составляет менее 2% от нулевого,
им и последующими максимумами в расчетах часто пренебрегают. Тогда довольно хорошее приближение функции распределения интенсивности дает гауссово распределение.
Приближенно распределение интенсивности в диске Эри может описываться Гауссовым распределением:
где I – интенсивность,
q – нормализованное расстояние от центра,
σ – средне квадратичное отклонение.

Слайд 17

Сравнение кривых

Профиль интенсивности в диске Эри – сплошная линия; гауссово приближение –

Сравнение кривых Профиль интенсивности в диске Эри – сплошная линия; гауссово приближение – пунктирная линия
пунктирная линия

Слайд 18

Апертура объектива

Апертура объектива микроскопа – угол (θ) конуса света, собираемого объективом от

Апертура объектива Апертура объектива микроскопа – угол (θ) конуса света, собираемого объективом
предмета, расположенного вблизи фокуса. Апертура определяется соотношением между фокусным расстоянием объектива и диаметром его входного зрачка (D).
Числовая апертура объектива определяется как NA=sin(θ/2).

Слайд 19

Числовая апертура объектива

Апертура определяется соотношением между фокусным расстоянием объектива и диаметром его

Числовая апертура объектива Апертура определяется соотношением между фокусным расстоянием объектива и диаметром
входного зрачка (D).
На рисунке приведены примеры различных апертур – от малой (слева) до большой (справа). По техническим причинам, которые будут рассмотрены в дальнейшем, объективы с большой апертурой имеют короткое фокусное расстояние.

Слайд 20

Построение изображения объективом вблизи дифракционного предела

Построение изображения объективом вблизи дифракционного предела

Слайд 21

Критерий Рэлея

Поскольку изображение светящейся точки представляет собой светящийся диск Эри, то разрешение

Критерий Рэлея Поскольку изображение светящейся точки представляет собой светящийся диск Эри, то
определяется расстоянием между соседними дисками Эри.
Радиус диска Эри определяется конструкцией оптического прибора и длиной волны испускаемого света. В случае микроскопа радиус диска связан с апертурой объектива и составляет 0.61* λ/NA, где λ – длина волны света, а NA – числовая апертура объектива.
Критерий Рэлея является не физическим, а формальным. Он в наилучшей степени приложим к светящимся объектам (астрономия, флуоресцентная микроскопия)

Слайд 22

Критерий Рэлея

Когда диски Эри частично перекрываются, то суммарная интенсивность в минимуме (указан

Критерий Рэлея Когда диски Эри частично перекрываются, то суммарная интенсивность в минимуме
стрелкой) растет по мере сближения объектов, и затем минимум исчезает вовсе.
При выполнении критерия Рэлея интенсивность центрального минимума составляет ~73,7% от соседних максимумов.

Слайд 23

Изображения точек идеальной линзой

Слева – размер диска Эри (радиус первого минимума) определяется

Изображения точек идеальной линзой Слева – размер диска Эри (радиус первого минимума)
апертурой объектива (апертура возрастает слева направо). Справа – когда диски Эри сближаются, их изображения начинают сливаться.

Слайд 24

Дифракционная решетка

Дифракционная решетка – система параллельных (прозрачных) щелей, разделенных непрозрачным промежутком, ширина

Дифракционная решетка Дифракционная решетка – система параллельных (прозрачных) щелей, разделенных непрозрачным промежутком,
которого примерно равна ширине щелей.
При использовании монохроматического света дифракционная решетка позволяет многократно усилить дифракционную картину (Фраунгофера), возникающую от одной щели. При использовании смешанного света решетка позволяет получить максимумы, соответствующие разным длинам волн, в различных областях пространства.

Слайд 25

Параметры дифракционной решетки

b – размер щели, d – расстояние между щелями или

Параметры дифракционной решетки b – размер щели, d – расстояние между щелями
период решетки. Обычно выражается в обратных единицах – штрихах на мм. 1000 штрихов/мм соответствует d=1 мкм.

Слайд 26

Дифракция света на решетке с тонкими щелями: чем меньше расстояние, тем больше

Дифракция света на решетке с тонкими щелями: чем меньше расстояние, тем больше
угол отклонения первого максимума: sinφ=λ/d. Например, для d=1 мкм и λ=550 нм ϕ=33,6о

Слайд 27

Максимальный угол дифракции при различном освещении

Дифракция на решетке: d=λ/(sin i+ sin (f-i)),

Максимальный угол дифракции при различном освещении Дифракция на решетке: d=λ/(sin i+ sin
где d есть интервал между элементами решетки, λ – длина волны падающего света, f – угол отклонения лучей, i – угол освещения, создаваемый конденсором

Слайд 28

Изображение, создаваемое дифракционной решеткой

Картина, создаваемая дифракционной решеткой с разным числом элементов: с

Изображение, создаваемое дифракционной решеткой Картина, создаваемая дифракционной решеткой с разным числом элементов:
ростом числа щелей дифракционная картина Фраунгофера превращается в регулярное изображение.

Слайд 29

Дифракционная картина в з.ф.п. – решетка с разными периодами

Расстояние между максимумами в

Дифракционная картина в з.ф.п. – решетка с разными периодами Расстояние между максимумами
з.ф.п. объектива растет с уменьшением расстояния между штрихами.

Слайд 30

Решетка и маски для наблюдения эффектов Аббе

Препарат представлял собой набор небольших решеток

Решетка и маски для наблюдения эффектов Аббе Препарат представлял собой набор небольших
с разным шагом и расположением (в центре).
Изображение препарата менялось в зависимости от использованных в З.Ф.П. объектива масок (справа)

Слайд 31

Эксперимент Аббе-Портера

Если объект с регулярной структурой расположен перед передним фокусом идеальной линзы

Эксперимент Аббе-Портера Если объект с регулярной структурой расположен перед передним фокусом идеальной
(объектива), то в з.ф.п. появляется его дифракционная картина (двумерный Фурье-спектр). Закрывая в этом спектре часть элементов можно регулировать конечное изображение, формируемое линзой.

Слайд 32

Эксперименты Аббе

1. Изображение решетки не меняется, если закрыть большую часть задней фокальной

Эксперименты Аббе 1. Изображение решетки не меняется, если закрыть большую часть задней
плоскости объектива, но оставить щели, соответствующие дифракционным максимумам.
2. Изображение решетки пропадает, если закрыть только области объектива, соответствующие дифракционным максимумам.
3. Если в объектив попадает свет первого и второго дифракционных максимумов, то, закрывая первый максимум, мы получим изображение решетки с вдвое более частыми щелями, чем они есть на самом деле.

Слайд 33

Влияние закрытия дифрационных максимумов на вид решетки

Влияние закрытия дифрационных максимумов на вид решетки

Слайд 34

Фурье-образ решетки в з.ф.п. объектива

Если перекрыть промежуточные максимумы в з.ф.п. объектива, то

Фурье-образ решетки в з.ф.п. объектива Если перекрыть промежуточные максимумы в з.ф.п. объектива,
плотность штрихов в изображении удвоится.

Слайд 35

Теория Аббе

Изображение в микроскопе формируется в результате интерференции прямого и дифрагированного света

Теория Аббе Изображение в микроскопе формируется в результате интерференции прямого и дифрагированного
в задней фокальной плоскости объектива. Оно возникает тогда, когда объективом собирается свет, как минимум, от первого дифракционного максимума.
Промежуточным этапом в формировании изображения является формирование Фурье-образа препарата в задней фокальной плоскости объектива.

Степень подобия изображения и объекта зависит от числа дифракционных максимумов в задней фокальной плоскости объектива.

Слайд 36

Построение изображения решетки объективом микроскопа

sinφ = λ/d; sinφmax.= NАоб.

Построение изображения решетки объективом микроскопа sinφ = λ/d; sinφmax.= NАоб.

Слайд 37

Разрешающая способность микроскопа по Аббе

Для дифракционной решетки угол первого дифракционного максимума α

Разрешающая способность микроскопа по Аббе Для дифракционной решетки угол первого дифракционного максимума
рассчитывается по формуле:
sin α= λ/d,
где λ – длина волны, d – период решетки.
Согласно условию Аббе, разрешающая способность микроскопа определяется максимальным углом отклонения дифрагированного света, попадающего в объектив. То есть,
sin α ≤ NAоб. ,
откуда получаем разрешающую способность объектива при освещении параллельным пучком света:
λ/NAоб. ,
где λ – длина волны света, NA – числовая апертура объектива.
При использовании косого освещения по критерию Аббе разрешающая способность возрастает вдвое и составит для поглощающих объектов 0.5 λ/NA.

Слайд 38

Максимальный угол дифракции удваивается при косом освещении

При использовании косого света (ортоскопическое освещение)

Максимальный угол дифракции удваивается при косом освещении При использовании косого света (ортоскопическое
максимальный угол дифракции света, собираемого объективом (φ) удваивается. Соответственно разрешение микроскопа становится в два раза лучше: 0,5 λ/NAоб.
Поэтому для достижения максимального разрешения необходимо использование конденсора.

Слайд 39

Формирование изображения препарата в микроскопе Аббе

Разрешающая способность микроскопа определяется только изображением, создаваемым

Формирование изображения препарата в микроскопе Аббе Разрешающая способность микроскопа определяется только изображением,
объективом. Окуляр используется лишь как лупа для разглядывания этого изображения, и дополнительных деталей не выявляет.

Слайд 40

Разрешающая способность объектива микроскопа

Согласно критерию Рэлея, разрешение свободного от аберраций оптического прибора

Разрешающая способность объектива микроскопа Согласно критерию Рэлея, разрешение свободного от аберраций оптического
может быть вычислено по формуле:
R = 0,61 λ/sin α,
где R – минимальное разрешаемое расстояние, α – максимальный угол, под которым отклоняющийся от оси свет попадает в линзу.
Для объектива микроскопа, где диаметр диска Эри определяется апертурой объектива, получаем
0.61 λ/NA,
где λ – длина волны света, NA – числовая апертура объектива.
Имя файла: Физическая-оптика:-интерференция-и-дифракция.-Лекция-2.pptx
Количество просмотров: 45
Количество скачиваний: 0