Индексы пригодности процессов

Общеупотребительными индексами пригодности процесса являются индексы пригодности (Cp и Cpk), т.к. они достаточно полно отражают отношения технически возможных отклонений (размаха процесса) к ±3 сигма пределам от первоначальных спецификаций.

Для вычислений нам потребуется стандартное отклонение Сигма
Находим размах R(i) для каждой выборки, где R(i) = максимальное значение - минимальное значение для i - ой выборки;
Вычисляем средний размах
Вычисляем сигма , где d(2) можно найти по стандартным статистическим таблицам
Замечание: стандартное отклонение наблюдений не равно стандартному
отклонению средних всех выборок, которое является результатом деления стандартного
отклонения на квадратный корень из n (объем выборки).

Формулы индексов пригодности
Потенциальная пригодность (Cp).
Это простейший и самый естественный показатель пригодности производственного процесса. Он определяется как отношение размаха допуска к размаху процесса; при использовании границ ±3 сигма данный показатель можно выразить в виде

Нижняя/верхняя потенциальная пригодность (Cpl, Cpu).
Недостаток показателя Cp состоит в том, что он может дать неверную информацию о производственном процессе в том случае, если среднее процесса отличается от номинального, иными словами, если процесс не центрирован.

Подтвержденное качество (Cpk).
Если процесс идеально центрирован, то Cpk равно Cp, но, при смещении процесса смещается от своего номинального значения, Cpk становится меньше Cp.
Высокий Cpk будет только в том случае, когда цель достигнута при минимальном отклонении от среднего.

Индекс Cpk

Индекс Cp

Cpk=1/2 – Вы врезались в край двери;
Cpk=1 – Вы слегка поцарапали машину о край двери;
Cpk=2 – все в норме, даже если Ваша ширина возрастет чуть меньше, чем в 2 раза;
Cpk=3 – а теперь можете расширяться почти в 3 раза.